特許
J-GLOBAL ID：201203023574188211
基板検査装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (5件)：
三好 秀和
, 岩▲崎▼ 幸邦
, 伊藤 正和
, 高橋 俊一
, 高松 俊雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-155763
公開番号（公開出願番号）：特開2012-018082
出願日： 2010年07月08日
公開日（公表日）： 2012年01月26日
要約：
【課題】リードを鮮明に識別することにより、検査の精度を向上した基板検査装置を提供する。【解決手段】電子部品の半田付け状態を検査する基板検査装置1において、内面が反射面12とされた反射部材11の基板側周囲部15に複数個設置され、反射面12側に白色光を出射する白色LED13と、基板面71を撮影するCCDカメラ30と、白色LED13を発光させて、CCDカメラ30による基板面71の撮影を行い、CCDカメラ30で撮影された画像中に所定の領域を設定し、設定された所定の領域中に含まれる白色領域を求め、所定の領域中に含まれる白色領域に基づいて、リード72の状態を判定するCPU51と、を有する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
先端部が平面とされ、該先端部の周囲が傾斜面とされる電子部品のリードが、基板面に形成されたランドに対して略直交する方向に固定して半田付けされた基板を検査する基板検査装置において、
前記基板面と対峙して配置され、内面が反射面とされたドーム形状をなす反射部材と、
前記反射部材の基板側周囲部に複数個設置され、前記反射面側に白色光を出射することにより、間接的に前記基板面に白色光を照射する白色光出射手段と、
前記基板面と対峙して配置され、前記基板面を撮影する撮影手段と、
前記白色光出射手段を発光させて、前記撮影手段による前記基板面の撮影を行う撮影制御手段と、
前記撮影手段で撮影された画像中の、少なくともリード部分を含む所定の領域を第1の判定領域として設定する領域設定手段と、
前記領域設定手段で設定された領域中に含まれる白色領域を求める画像処理手段と、
前記第1の判定領域中に含まれる前記白色領域が第1閾値以下である場合に、前記リードの状態を判定する判定手段と、
を有することを特徴とする基板検査装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N21/956 B
, H05K3/34 512B
2G051AA65
, 2G051AB14
, 2G051BA01
, 2G051BA04
, 2G051BA08
, 2G051BB11
, 2G051CA04
, 2G051CB01
, 2G051DA07
, 2G051EA12
, 2G051EA14
, 2G051EA17
, 2G051EB02
, 2G051FA01
, 5E319AA03
, 5E319AB01
, 5E319CC22
, 5E319CD53
, 5E319GG15
