特許
J-GLOBAL ID:201203045632103179
アブソリュートエンコーダ
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件):
藤元 亮輔
, 水本 敦也
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2010-153098
公開番号(公開出願番号):特開2012-013650
出願日: 2010年07月05日
公開日(公表日): 2012年01月19日
要約:
【課題】小型かつ低コストで高精度なアブソリュートエンコーダを提供する。【解決手段】アブソリュートエンコーダは、第1スリットを有する第1トラック及び第2スリットを有する第2トラックを備えたスケール部と、第1及び第2スリットに光を照射する光源と、第1スリットで反射した光から得られた第1信号を検出する第1検出手段と、第2スリットで反射した光から得られた第2信号を検出する第2検出手段とを有し、第2スリットは、スケール部の移動方向における位置に応じて光源から照射された光の反射光量が異なるように形成され、演算手段は、第2検出手段で得られた光電流の電圧値又は第2信号の振幅値に基づいて上位信号を取得し、第1及び第2信号を用いてバーニア演算を行い中位信号を取得し、第1信号を用いてアークタンジェント演算を行い下位信号を取得し、上位信号、中位信号、及び、下位信号に基づいて被計測物の絶対位置を算出する。【選択図】図1
請求項(抜粋):
被計測物の絶対位置を計測するアブソリュートエンコーダであって、
前記被計測物とともに移動可能に構成され、第1間隔で形成された第1スリットを有する第1トラック、及び、該第1間隔とは異なる第2間隔で形成された第2スリットを有する第2トラック、を備えたスケール部と、
前記第1スリット及び前記第2スリットに光を照射する光源と、
前記第1スリットで反射又は透過した光から得られた第1信号を検出する第1検出手段と、
前記第2スリットで反射又は透過した光から得られた第2信号を検出する第2検出手段と、
前記第1信号及び前記第2信号に基づいて前記被計測物の絶対位置を算出する演算手段と、を有し、
前記第2スリットは、前記スケール部の移動方向における位置に応じて前記光源から照射された光の反射光量又は透過光量が異なるように形成され、
前記演算手段は、
前記第2検出手段で得られた光電流の電圧値又は前記第2信号の振幅値に基づいて上位信号を取得し、
前記第1信号及び前記第2信号を用いてバーニア演算を行うことにより中位信号を取得し、
前記第1信号を用いてアークタンジェント演算を行うことにより下位信号を取得し、
前記上位信号、前記中位信号、及び、前記下位信号に基づいて前記被計測物の絶対位置を算出する、
ことを特徴とするアブソリュートエンコーダ。
IPC (1件):
FI (1件):
Fターム (14件):
2F103BA04
, 2F103BA10
, 2F103CA03
, 2F103DA04
, 2F103DA07
, 2F103EA02
, 2F103EA15
, 2F103EA21
, 2F103EB06
, 2F103EB12
, 2F103EB16
, 2F103EB32
, 2F103FA07
, 2F103FA12
引用特許:
出願人引用 (5件)
-
光電式エンコーダ
公報種別:公開公報
出願番号:特願2008-040360
出願人:株式会社ミツトヨ
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絶対位置測長型エンコーダ
公報種別:公開公報
出願番号:特願2007-161776
出願人:株式会社ミツトヨ
-
光学式エンコーダ
公報種別:公開公報
出願番号:特願2004-363412
出願人:キヤノン株式会社, キヤノンプレシジョン株式会社
-
光学式変位測定装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2004-115577
出願人:株式会社ミツトヨ
-
エンコーダ
公報種別:公開公報
出願番号:特願平11-211525
出願人:株式会社小野測器
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審査官引用 (4件)
-
絶対位置測長型エンコーダ
公報種別:公開公報
出願番号:特願2007-161776
出願人:株式会社ミツトヨ
-
光電式エンコーダ
公報種別:公開公報
出願番号:特願2008-040360
出願人:株式会社ミツトヨ
-
エンコーダ
公報種別:公開公報
出願番号:特願平11-211525
出願人:株式会社小野測器
-
光学式変位測定装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2004-115577
出願人:株式会社ミツトヨ
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