光測定システム

発明者： , ,
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：田村爾 , 杉村純子
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-161188
公開番号（公開出願番号）：特開2012-021921
出願日： 2010年07月16日
公開日（公表日）： 2012年02月02日
要約：

【課題】 1本の光ファイバにより歪と温度の両方を測定し、より正確な歪情報を測定することが可能であると共に、コストの増加を抑制した光測定システムを提供すること。【解決手段】光ファイバを用いて温度及び歪みを測定可能な光測定システムにおいて、1本の光ファイバ2を用いて温度及び歪みに係る測定光を検知し、測定対象物に配置された該光ファイバの一部に、該測定対象物から該光ファイバに加わる応力を遮断するシールド部材3が配置され、該シールド部材内に配置される該光ファイバの状態に基づく測定光から温度を検出する温度検出手段と、該シールド部材以外に配置される該光ファイバの状態に基づく測定光から歪みを検出する歪検出手段と、該歪検出手段の結果を、該温度検出手段の結果で補償する温度補償手段とを有することを特徴とする。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

光ファイバを用いて温度及び歪みを測定可能な光測定システムにおいて、 1本の光ファイバを用いて温度及び歪みに係る測定光を検知し、測定対象物に配置された該光ファイバの一部に、該測定対象物から該光ファイバに加わる応力を遮断するシールド部材が配置され、該シールド部材内に配置される該光ファイバの状態に基づく測定光から温度を検出する温度検出手段と、該シールド部材以外に配置される該光ファイバの状態に基づく測定光から歪みを検出する歪検出手段と、該歪検出手段の結果を、該温度検出手段の結果で補償する温度補償手段とを有することを特徴とする光測定システム。

IPC (2件)：

G01B 11/00 , G01K 11/12

FI (2件)：

G01B11/00 G , G01K11/12 F

Fターム (7件)：

2F056VF02 , 2F056VF11 , 2F065AA09 , 2F065EE01 , 2F065FF48 , 2F065LL02 , 2F065LL42

引用特許：

審査官引用 (6件)

多点型歪み及び温度センサ
公報種別：公開公報出願番号：特願平8-300218 出願人：日立電線株式会社
温度検出
公報種別：公表公報出願番号：特願2009-546808 出願人：ジーケイエヌエアロスペースサービシイズリミテッド
ブリルアン散乱測定装置
公報種別：公開公報出願番号：特願2008-085474 出願人：住友大阪セメント株式会社, 鹿島建設株式会社

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