特許
J-GLOBAL ID:201203074624141258
半導体構造同士を直接結合する方法、およびこの方法を使用して形成された結合された半導体構造
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
特許業務法人 谷・阿部特許事務所
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2011-260461
公開番号(公開出願番号):特開2012-129521
出願日: 2011年11月29日
公開日(公表日): 2012年07月05日
要約:
【課題】半導体構造同士を直接結合する方法を提供すること。【解決手段】本発明の実施形態は、半導体構造同士を直接結合する方法を含む。いくつかの実施形態では、半導体構造の直接結合された金属フィーチャ間の境界面に、キャップ層を提供することができる。いくつかの実施形態では、半導体構造の直接結合された金属フィーチャ内に、不純物が提供される。そのような方法を使用して、結合された半導体構造が形成される。【選択図】図1G
請求項(抜粋):
第1の半導体構造を第2の半導体構造へ直接結合する方法であって、
前記第1の半導体構造上の第1の金属フィーチャの表面に、金属およびケイ素を含むキャップ層を形成するステップであり、前記キャップ層の表面は、前記第1の金属フィーチャの第1の結合表面を画定する、ステップと、
前記第2の半導体構造上の第2の金属フィーチャの第2の結合表面を前記第1の半導体構造上の前記第1の金属フィーチャの前記第1の結合表面へ直接結合するステップと
を含むことを特徴とする方法。
IPC (5件):
H01L 21/768
, H01L 25/065
, H01L 25/07
, H01L 25/18
, H01L 21/603
FI (3件):
H01L21/90 A
, H01L25/08 Z
, H01L21/603 B
Fターム (37件):
5F033HH11
, 5F033HH12
, 5F033KK07
, 5F033KK08
, 5F033KK11
, 5F033KK12
, 5F033KK14
, 5F033KK15
, 5F033KK21
, 5F033KK25
, 5F033KK32
, 5F033MM01
, 5F033MM12
, 5F033MM13
, 5F033PP00
, 5F033PP06
, 5F033PP07
, 5F033PP14
, 5F033PP15
, 5F033PP27
, 5F033PP28
, 5F033QQ00
, 5F033QQ11
, 5F033QQ19
, 5F033QQ48
, 5F033QQ70
, 5F033QQ73
, 5F033QQ90
, 5F033QQ94
, 5F033RR01
, 5F033RR04
, 5F033RR06
, 5F033SS07
, 5F033SS11
, 5F033WW02
, 5F033WW03
, 5F033XX20
引用特許:
出願人引用 (4件)
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半導体装置及びその製造方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平11-105970
出願人:須賀唯知, ソニー株式会社, 富士通株式会社, 沖電気工業株式会社, 三洋電機株式会社, シャープ株式会社, 株式会社東芝, 日本電気株式会社, 株式会社日立製作所, 松下電子工業株式会社, 三菱電機株式会社, ローム株式会社
-
高信頼性銅配線及びその製造方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願2008-002296
出願人:パナソニック株式会社
-
半導体装置及びその製造方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願2001-378427
出願人:ソニー株式会社
-
多層配線層を有する半導体装置およびその製造方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願2003-022394
出願人:株式会社東芝
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審査官引用 (4件)
-
半導体装置及びその製造方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平11-105970
出願人:須賀唯知, ソニー株式会社, 富士通株式会社, 沖電気工業株式会社, 三洋電機株式会社, シャープ株式会社, 株式会社東芝, 日本電気株式会社, 株式会社日立製作所, 松下電子工業株式会社, 三菱電機株式会社, ローム株式会社
-
高信頼性銅配線及びその製造方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願2008-002296
出願人:パナソニック株式会社
-
半導体装置及びその製造方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願2001-378427
出願人:ソニー株式会社
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