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J-GLOBAL ID：201302209361970331   整理番号：13A1568492

収差補正電子顕微鏡と表面・界面科学

Electron Microscopy for “Nano-in-Macro”

著者 (10件)： 高柳邦夫 (東京工業大学) ,  高柳邦夫 (CREST-JST) ,  大島義文 (CREST-JST) ,  大島義文 (大阪大学超高圧電子顕微鏡センター) ,  李少淵 (東京工業大学) ,  李少淵 (CREST-JST) ,  田中崇之 (東京工業大学) ,  田中崇之 (CREST-JST) ,  谷城康眞 (東京工業大学) ,  谷城康眞 (CREST-JST)
資料名： 表面科学  (JSSSJ)
巻： 34  号： 5  ページ： 226-233 (J-STAGE)  発行年： 2013年 
JST資料番号： F0940B  ISSN： 0388-5321  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 収差補正電子顕微鏡は,材料の種々の特性とそれらの機能,即ち,界面,イオン性,プラズモニクス,磁性,及び電子の特性などを明らかにした。特に,50ピコメートル分解能顕微鏡は,リチウムイオン電池電極として利用されるLiMn₂O₄中のリチウムイオンの観察を可能にした。表面の50ピコメートル電子プローブ走査は,STMと同様に単一吸着原子/空孔の検出に十分に高感度である。透過モードでの50ピコメートル顕微鏡は,O₂,及び/又はCO環境中でのAu/TiO₂で実証された通り,触媒研究に有用である。in situの収差補正電子顕微鏡は,「マクロ中のナノ」での構造に関する原子特性,イオン特性,及び電子特性の足掛かりを提供する。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： 透過型走査電子顕微鏡 ,  *収差補正 ,  マンガン酸塩 ,  リチウム化合物 ,  金属イオン ,  酸化チタン ,  ナノ構造 ,  *表面構造 ,  高分解能 ,  波動光学 ,  その場観察 ,  触媒活性 ,  *電子顕微鏡 ,  *界面 ,  *電子顕微鏡観察
準シソーラス用語： チタニア ,  マンガン酸リチウム ,  リチウムイオン

分類 (1件)： 顕微鏡法  (BK01040E)

引用文献 (48件)：

• SCHERZER, O. Z. Physik. 1936, 101, 593
• ROSE, H. Optik. 1990, 85, 19
• SAWADA, H. J. Electron Microsc. 2009, 58, 357
• SAWADA, H. Jpn. J. Apl. Phys. 2007, 46, L568
• TAKAYANAGI, K. Surface Sci. 1985, 164, 367

タイトルに関連する用語 (3件)： 収差補正 ,  電子顕微鏡 ,  界面科学