特許
J-GLOBAL ID：201303009816754149

散乱式粒子径分布測定装置

発明者：
東川 喜昭

東川 喜昭 について

, 
黒住 拓司

黒住 拓司 について


出願人/特許権者：
株式会社堀場製作所

株式会社堀場製作所 について


代理人 (1件)： 藤本 英夫
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-108458
公開番号（公開出願番号）：特開2002-310884
特許番号：特許第4818527号
出願日： 2001年04月06日
公開日（公表日）： 2002年10月23日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 光源から光をセル内の試料に対して照射し、そのとき生ずる散乱光を集光レンズを介してアレイ状検出器に入射させ、このとき得られる散乱光強度パターンに基づいて試料中の粒子径分布を測定する散乱式粒子径分布測定装置において、光軸調整に際して、前記光源とアレイ状検出器とを結ぶ光路上のいずれかに回折光発生手段を設けた状態で光源から光を照射して、前記アレイ状検出器上に回折像を生じさせ、前記アレイ状検出器の複数の受光素子で受光した0次回折光の強度を解析することにより、照射した光の中心がアレイ状検出器の中心からどれだけずれているかを判別できるようにし、 0次回折光を受光する前記複数の受光素子として、透過光受光素子を中心にして同心円状に配置され、かつ前記透過光受光素子からの距離が互いに異なり前記透過光受光素子からの方向は略同一となる複数の円弧状帯体の散乱光受光素子から構成される受光素子群が複数設けられ、隣り合う前記受光素子群どうしが、前記透過光受光素子から延びる不感領域を挟むように配置され、 0次回折光を検出した複数の前記散乱光受光素子の位置情報と検出信号の強度とに基づいて前記判別を行う演算部を有することを特徴とする散乱式粒子径分布測定装置。
IPC (1件)：
G01N 15/02 ( 200 6.01)
FI (1件)：
G01N 15/02 A
引用特許：
審査官引用 (4件)
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