特許
J-GLOBAL ID：201303021299722274

平面形状の回折格子構造を用いたX線位相コントラストおよび暗視野イメージングのための方法

発明者：
クリスティアン ダーフィト

クリスティアン ダーフィト について

, 
マルコ スタンパノーニ

マルコ スタンパノーニ について


出願人/特許権者：
パウル・シェラー・インスティトゥート

パウル・シェラー・インスティトゥート について


代理人 (2件)： アインゼル・フェリックス=ラインハルト ,  久野 琢也
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-517111
公開番号（公開出願番号）：特表2013-529984
出願日： 2011年04月04日
公開日（公表日）： 2013年07月25日
要約：
一連の像は、0からπまたは2πまで、連続的にまたは段階的に、試料を回転させるか、または、試料に対して装置と線源を回転させることにより収集され、回折格子(G0(必要な場合)、G1とG2)は、または、このような回折格子の組の一部は、X線が基体に対して平行に当該回折格子を通る、新規な平面形状にしたがって形成されており、回折格子構造体は、位相シフトと減衰とを決定する、X線のパスに沿って延在しており、当該回折格子構造体は、当該回折構造体の厚さではなく、当該回折格子構造体の長さによってX線に作用する。
請求項（抜粋）：
試料から定量的X線像を取得するためのX線装置、特に硬X線装置であって、 X線源(X線)と、 少なくとも2つの回折格子(G0、G1とG2の両方、G1とG2の一方)の組と、 複数の個別のピクセルを有し、空間的に増幅される検出感度を有する位置敏感検出器(PSD)と、 前記検出器(PSD)の像を記録する手段と、 吸収を主とするピクセルとしてのおよび/または微分位相コントラストを主とするピクセルとしてのおよび/またはX線散乱を主とするピクセルとしての、各個別のピクセルについて対象の特徴を同定するために、一連の像中の各ピクセルに関する強度を評価する手段と、 を有し、 前記一連の像は、0からπまたは2πまで、連続的にまたは段階的に、前記試料を回転させるか、または、前記試料に対して前記装置と前記線源を回転させることにより収集され、 前記回折格子(G0(必要な場合)、G1とG2)は、または、このような回折格子の組の一部は、X線が前記基体に対して平行に当該回折格子を通る、新規な平面形状にしたがって形成されており、 前記回折格子構造体は、位相シフトと減衰とを決定する、X線のパスに沿って延在しており、 当該回折格子構造体は、当該回折構造体の厚さではなく、当該回折格子構造体の長さによってX線に作用する、 ことを特徴とするX線装置。
IPC (3件)：
A61B 6/00 ,  G01N 23/04 ,  A61B 6/06
FI (3件)：
A61B6/00 300J ,  G01N23/04 ,  A61B6/06 331
Fターム (14件)：
2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001BA14 ,  2G001DA08 ,  2G001DA09 ,  2G001EA01 ,  2G001GA06 ,  2G001SA02 ,  4C093AA07 ,  4C093AA14 ,  4C093CA32 ,  4C093EA12 ,  4C093EB22 ,  4C093EB30
引用特許：
出願人引用 (9件)
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審査官引用 (6件)
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