特許
J-GLOBAL ID：201303068009163761

物質センシング方法及び物質センシング装置

発明者：
福島 三花

福島 三花 について


出願人/特許権者：
株式会社村田製作所

株式会社村田製作所 について


代理人 (1件)： 福永 正也
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-032252
公開番号（公開出願番号）：特開2013-167591
出願日： 2012年02月17日
公開日（公表日）： 2013年08月29日
要約：
【課題】本発明は、吸収スペクトルを分析することにより、らせん状の立体構造を有する高分子材料の存在を容易に検出できる物質センシング方法及び物質センシング装置を提供する。【解決手段】本発明に係る物質センシング方法は、試料に対してテラヘルツ光を照射し、試料のテラヘルツ光の吸収スペクトルを測定する。測定した吸収スペクトルの吸収ピークを検出して、試料におけるらせん状の立体構造を有する高分子材料の存在を検出する。検出対象となる高分子材料は、メチル基より大きい官能基が、らせん構造の外側に並んで配置されている構造を有している。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
試料における対象物質の存在を検出する物質センシング方法において、 前記試料に対してテラヘルツ光を照射するステップと、 前記試料のテラヘルツ光の吸収スペクトルを測定するステップと、 測定した吸収スペクトルの吸収ピークを検出して、前記試料におけるらせん状の立体構造を有する高分子材料の存在を検出するステップと を含むことを特徴とする物質センシング方法。
IPC (1件)：
G01N 21/35
FI (1件)：
G01N21/35 Z
Fターム (12件)：
2G059AA01 ,  2G059AA05 ,  2G059BB08 ,  2G059CC12 ,  2G059EE01 ,  2G059EE12 ,  2G059GG01 ,  2G059GG09 ,  2G059HH01 ,  2G059HH06 ,  2G059JJ13 ,  2G059JJ22
引用特許：
審査官引用 (5件)
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