特許
J-GLOBAL ID：201303075714012426

塗布状態測定方法

発明者：
藤本 美代子

藤本 美代子 について

, 
菅沼 寛

菅沼 寛 について

, 
五十嵐 陽子

五十嵐 陽子 について


出願人/特許権者：
住友電気工業株式会社

住友電気工業株式会社 について


代理人 (4件)： 長谷川 芳樹 ,  黒木 義樹 ,  近藤 伊知良 ,  柴田 昌聰
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2011-185193
公開番号（公開出願番号）：特開2013-044729
出願日： 2011年08月26日
公開日（公表日）： 2013年03月04日
要約：
【課題】測定対象物に塗布された塗布物質の塗布状態をより簡単に精度よく測定する。【解決手段】測定対象物を撮像して測定対象物のスペクトル画像を取得する画像取得ステップS01と、画像取得ステップにより得られたスペクトル画像に基づいて、塗布物質の種類を判別する塗布物判別ステップS02と、画像取得ステップにより得られた前記スペクトル画像に基づいて、塗布物質の塗布量を測定する塗布量測定ステップS03と、を備える。【選択図】図6
請求項（抜粋）：
測定対象物に塗布された塗布物質の塗布状態を測定する方法であって、 前記測定対象物を撮像して前記測定対象物のスペクトル画像を取得する画像取得ステップと、 前記画像取得ステップにより得られた前記スペクトル画像に基づいて、前記塗布物質の種類を判別する塗布物判別ステップと、 前記画像取得ステップにより得られた前記スペクトル画像に基づいて、前記塗布物質の塗布量を測定する塗布量測定ステップと、 を備えることを特徴とする塗布状態測定方法。
IPC (5件)：
G01N 21/27 ,  G01N 21/35 ,  G01B 11/06 ,  G01G 17/04 ,  B05D 3/00
FI (5件)：
G01N21/27 B ,  G01N21/35 Z ,  G01B11/06 H ,  G01G17/04 D ,  B05D3/00 D
Fターム (43件)：
2F065AA30 ,  2F065BB13 ,  2F065CC17 ,  2F065CC31 ,  2F065DD03 ,  2F065FF46 ,  2F065GG02 ,  2F065GG21 ,  2F065GG25 ,  2F065HH05 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL02 ,  2F065LL08 ,  2F065LL23 ,  2F065LL53 ,  2F065LL62 ,  2F065LL67 ,  2F065PP15 ,  2F065QQ41 ,  2F065RR06 ,  2G059AA02 ,  2G059AA05 ,  2G059BB10 ,  2G059BB15 ,  2G059DD12 ,  2G059DD13 ,  2G059EE02 ,  2G059EE12 ,  2G059HH01 ,  2G059HH06 ,  2G059JJ02 ,  2G059JJ17 ,  2G059KK03 ,  2G059MM09 ,  2G059MM10 ,  4D075BB92Z ,  4D075DC24 ,  4D075DC38 ,  4D075EA05 ,  4D075EA35 ,  4D075EA45 ,  4F042DH09
引用特許：
審査官引用 (4件)
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