特許
J-GLOBAL ID:201303079340637848
合焦評価装置、撮像装置およびプログラム
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件):
古谷 史旺
, 森 俊秀
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2012-191152
公開番号(公開出願番号):特開2013-065005
出願日: 2012年08月31日
公開日(公表日): 2013年04月11日
要約:
【課題】 軸上色収差を利用して合焦状態をより高い精度で判定する【解決手段】 合焦評価装置の領域設定部は、複数のブロックを含む合焦評価領域をカラー画像に設定する。エッジ検出部は、各々のブロックから、色成分ごとのエッジをそれぞれ検出する。ブロック選出部は、複数のブロックのうち、合焦評価に適用する評価対象ブロックを選出する。ピント判定部は、軸上色収差がある2つの色成分でのエッジのボケ幅の差を用いて、評価対象ブロックごとにピント判定値を求める。合焦評価部は、各々の評価対象ブロックでのピント判定値を統合して、合焦評価領域での被写体像の合焦状態を評価する。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
軸上色収差をもつ光学系によって形成された被写体像のカラー画像を取得する取得部と、
複数のブロックを含む合焦評価領域を前記カラー画像に設定する領域設定部と、
各々のブロックから、色成分ごとのエッジをそれぞれ検出するエッジ検出部と、
複数の前記ブロックのうち、合焦評価に適用する評価対象ブロックを選出するブロック選出部と、
軸上色収差がある2つの色成分での前記エッジのボケ幅の差を用いて、前記評価対象ブロックごとにピント判定値を求めるピント判定部と、
各々の前記評価対象ブロックでのピント判定値を統合して、前記合焦評価領域での前記被写体像の合焦状態を評価する合焦評価部と、
を備える合焦評価装置。
IPC (4件):
G02B 7/28
, G02B 7/36
, G03B 13/36
, H04N 5/232
FI (4件):
G02B7/11 N
, G02B7/11 D
, G03B3/00 A
, H04N5/232 H
Fターム (19件):
2H011BA33
, 2H011BB04
, 2H151BA45
, 2H151BA47
, 2H151CE14
, 2H151DA07
, 2H151DA21
, 2H151DA22
, 5C122DA03
, 5C122DA04
, 5C122EA42
, 5C122FD01
, 5C122FD06
, 5C122FD13
, 5C122FH03
, 5C122HA88
, 5C122HB01
, 5C122HB05
, 5C122HB06
引用特許:
出願人引用 (11件)
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審査官引用 (11件)
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