特許
J-GLOBAL ID:201303086224237413

半導体ダイオード装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 酒井 宏明 ,  田代 至男
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2012-090930
公開番号(公開出願番号):特開2013-219306
出願日: 2012年04月12日
公開日(公表日): 2013年10月24日
要約:
【課題】低い順方向電圧降下と低いリーク電流とを同時に実現できる半導体ダイオード装置を提供すること。【解決手段】ワイドバンドギャップ型半導体材料で構成された、ノーマリオン型の高耐圧トランジスタと、前記高耐圧トランジスタに直列に接続し、前記高耐圧トランジスタよりも耐圧が低く、かつしきい値電圧が0.3V以上、1V以下であるMOSFETと、を備え、前記MOSFETのゲートとソースとが、接続されている半導体ダイオード装置。【選択図】図1
請求項(抜粋):
ワイドバンドギャップ型半導体材料で構成されたノーマリオン型の高耐圧トランジスタと、 前記高耐圧トランジスタに直列に接続し、前記高耐圧トランジスタよりも耐圧が低く、かつしきい値電圧が0.3V以上、1V以下であるMOSFETと、 を備え、前記MOSFETのゲートとソースとが接続されていることを特徴とする半導体ダイオード装置。
IPC (12件):
H01L 27/095 ,  H01L 21/823 ,  H01L 27/06 ,  H01L 21/338 ,  H01L 29/778 ,  H01L 29/812 ,  H01L 21/337 ,  H01L 27/098 ,  H01L 29/808 ,  H01L 23/48 ,  H01L 29/861 ,  H01L 29/868
FI (8件):
H01L29/80 E ,  H01L27/06 102A ,  H01L29/80 H ,  H01L29/80 C ,  H01L29/80 V ,  H01L27/06 F ,  H01L23/48 F ,  H01L29/91 L
Fターム (26件):
5F048AA05 ,  5F048AB10 ,  5F048AC02 ,  5F048AC06 ,  5F048AC09 ,  5F048AC10 ,  5F048BA01 ,  5F048BA14 ,  5F048BA15 ,  5F048BC12 ,  5F048BD05 ,  5F102FA10 ,  5F102GA05 ,  5F102GA14 ,  5F102GB01 ,  5F102GB04 ,  5F102GC01 ,  5F102GC08 ,  5F102GD01 ,  5F102GD04 ,  5F102GJ02 ,  5F102GL02 ,  5F102GL04 ,  5F102GM04 ,  5F102GQ01 ,  5F102GR12
引用特許:
審査官引用 (6件)
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