特許
J-GLOBAL ID：201303098167306231

画像処理装置及び画像処理方法

発明者：
坂川 幸雄

坂川 幸雄 について


出願人/特許権者：
キヤノン株式会社

キヤノン株式会社 について


代理人 (1件)： 國分 孝悦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-120095
公開番号（公開出願番号）：特開2013-166072
出願日： 2013年06月06日
公開日（公表日）： 2013年08月29日
要約：
【課題】被写体の断層画像における位置ずれ補正を高精度で行える仕組みを提供する。【解決手段】断層画像取得部120において被写体の第1の断層画像を取得し、断層画像解析部130における第1の断層画像の解析結果に基づいて、被写体の第2の断層画像を撮影する際の撮影パラメータを断層画像撮影パラメータ設定部140で設定する。そして、断層画像取得部120では、断層画像撮影パラメータ設定部140で設定された撮影パラメータに基づき第2の断層画像を取得し、断層画像位置補正部160において第2の断層画像を用いて1の断層画像の位置ずれを補正する。【選択図】図2
請求項（抜粋）：
被写体の断層画像を撮影する撮影装置であって、 前記被写体の第1の断層画像を取得する第1の断層画像取得手段と、 前記第1の断層画像を解析する断層画像解析手段と、 前記断層画像解析手段の解析結果に基づいて、前記被写体の第2の断層画像を撮影する際の撮影パラメータを設定する撮影パラメータ設定手段と、 前記撮影パラメータ設定手段で設定された撮影パラメータに基づき撮影された前記第2の断層画像を取得する第2の断層画像取得手段と、 前記第2の断層画像を用いて前記第1の断層画像の位置ずれを補正する補正手段と を有することを特徴とする撮影装置。
IPC (2件)：
A61B 3/10 ,  G01N 21/17
FI (2件)：
A61B3/10 R ,  G01N21/17 630
Fターム (14件)：
2G059AA05 ,  2G059BB12 ,  2G059EE02 ,  2G059EE09 ,  2G059EE17 ,  2G059FF02 ,  2G059JJ05 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ13 ,  2G059JJ15 ,  2G059JJ22 ,  2G059KK04 ,  2G059LL01 ,  2G059MM01
引用特許：
審査官引用 (4件)
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