| 詳細情報 |   |
|---|---|
| 関連リンク |  |
| 探す |  |
講演・口頭発表等 (199件)
-
ランダムテレグラフノイズを用いたチップ識別手法の一検討
(電子情報通信学会 ソサイエティ大会 2014) -
フリップフロップの最小動作電圧計測のためのFPGAを用いた自動設計環境の構築
(第40回パルテノン研究会 2014) -
粗粒度再構成可能アーキテクチャ向けの省メモリな耐ソフトエラー時間多重化手法
(第40回パルテノン研究会 2014) -
An Experimental Study on Interdigital Capacitance Sensor for Detecting Heart Rate
(Workshop on Circuits and Systems 2014) -
高次元回路歩留まり解析高速化のための最急降下法を用いた不良領域探索
(回路とシステムワークショップ 2014) -
A Low Cost Capacitor Approach for Suppressing Resonance in Power Distribution Networks
(International Symposium on Electromagnetic Compatibility, Tokyo (EMC Tokyo) 2014) -
ランダムウォーク電源網解析の高速化に向けた節点解析順序の検討
(情報処理学会SLDM研究会 2014) -
低電圧起動回路を用いた省電力チップ間非接触通信回路
(情報処理学会SLDM研究会 2014) -
Experimental Validation of Minimum Operating Voltage Estimation for Low Supply Voltage Circuits
(International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED) 2014) -
最大動作周波数テストの枠組みを用いたデバイスパラメータ推定手法
(電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会 2014) -
3端子コンデンサにおける周波数特性の有理関数近似と等価回路表現
(電子情報通信学会EMCJ研究会 2014) -
Time Dependent Degradation (Invited)
(The Journal of Reliability Engineering Association of Japan 2013) -
Statistical Observation of NBTI and PBTI Degradations
(Workshop on variability modeling and characterization (VMC) 2013) -
A Device Array for Flexible BTI Characterization (Invited Talk)
(Workshop on variability modeling and characterization (VMC) 2013) -
Place-and-route Algorithms for a Reliability-oriented Coarse-grained Reconfigurable Architecture Using Time Redundancy
(The 18th workshop on synthesis and system integration of mixed information technologies (SASIMI) 2013) -
Statistical Simulation Methods for Analyzing Performance of Low Supply Voltage Circuits (Invited)
(The IEEE 10th International Conference on ASIC (ASICON) 2013) -
TV最適化を用いた可変レート圧縮センシング
(電子情報通信学会 ソサイエティ大会(於 福岡工業大学) 2013) -
トランジスタアレイを用いたBTI劣化の統計的観測
(DA シンポジウム 2013) -
3996トランジスタにおけるNBTI劣化の統計的ばらつき
(DA シンポジウム 2013) -
低電源電圧におけるフリップフロップの故障モードの解析
(電子情報通信学会ICD研究会 2013)
前のページに戻る
