特許
J-GLOBAL ID：201403001803725723
写真計測図化方法、及び写真計測図化装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
甲斐 哲平
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-211530
特許番号：特許第5492343号
出願日： 2013年10月09日
要約：
【課題】本願発明の課題は従来技術が抱える問題を解消することであり、すなわちCADオペレーターの労力を軽減して図化コストを軽減するとともに、ヒューマンエラーを抑制して正確に製造物を再現する図化技術であって、写真計測の利用により自動的な図化を可能とする写真計測図化方法、写真計測図化装置、及び写真計測図化用ターゲットを提供することが本願発明の課題である。
【解決手段】本願発明の写真計測図化方法は、貼付工程、撮影工程、座標取得工程、及び図形要素取得工程を備えた方法である。このうち座標取得工程は、2以上の写真画像に基づいて計測点の座標を取得する工程であり、図形要素取得工程は、写真画像に写された計測ターゲットから計測点における図形要素を取得する工程である。そして、計測点の座標と図形要素に基づいて、計測対象物の一部又は全部を図化する。
【選択図】図2
請求項（抜粋）：
【請求項1】 計測対象物を図化する方法であって、
前記計測対象物の計測点に、計測ターゲットを貼付する貼付工程と、
前記計測ターゲットが含まれる写真画像を、2以上取得する撮影工程と、
前記2以上の写真画像に基づいて、前記計測点の座標を取得する座標取得工程と、
前記写真画像に写された前記計測ターゲットから、前記計測点における図形要素を取得する図形要素取得工程と、
前記計測点の座標及び図形要素に基づいて、前記計測対象物の一部又は全部を図化する図化工程と、を備え、
前記図形要素は、当該計測点を基準とした図形を構成するための情報であり、
前記図化工程では、1の前記計測点の座標及び図形要素に基づいて、前記計測点を基準とした単独図形を図化する、ことを特徴とする写真計測図化方法。
IPC (2件)：
G01C 11/06 ( 200 6.01)
, G01C 15/06 ( 200 6.01)
G01C 11/06
, G01C 15/06 T
出願人引用 (6件)
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審査官引用 (6件)
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