特許
J-GLOBAL ID：201403044359841054

光断層画像撮影装置

発明者：
山成 正宏

山成 正宏 について


出願人/特許権者：
株式会社トーメーコーポレーション

株式会社トーメーコーポレーション について


公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-083574
公開番号（公開出願番号）：特開2014-206433
出願日： 2013年04月12日
公開日（公表日）： 2014年10月30日
要約：
【課題】偏光感受型OCTの構造を簡略化することにより、使用する部品を削減し、調整が容易でしかもコストの低減を可能にし、量産化が可能であり、かつ、偏光感受型OCTでありながら通常のOCT計測も可能にした光断層画像撮影装置を提供すること。【解決手段】偏波依存ディレイライン133に使用する偏光ビームスプリッターを1つにして角度ずれを解消し、偏光感受型検出アーム136にインライン型の偏光ビームスプリッターを採用することで、出力部のコリメータレンズ部を2箇所に減らすことによる構成の簡潔化により調整を容易にし、かつコスト低減を可能にし、さらに、サンプルアーム部に光スイッチのよる切替手段や遮蔽板による遮蔽手段を設けることにより偏光感受型OCTとしても、通常のOCTとしても使用可能な構成とした。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
光源の光を被検査物に照射するサンプルアームと参照物に照射する参照アームに分岐する分岐手段と、 前記サンプルアーム内で、前記被検査物に照射する光(サンプル光)を互いに異なる偏光方向である第一の光と第二の光に分割し、該分割した前記第一の光と前記第二の光を互いに異なる時間に遅延させるサンプル光分割遅延手段と、 前記サンプルアームの前記被検査物から反射された前記第一の光と前記参照アームからの光の合波からなる干渉信号と、 前記サンプルアームの前記被検査物から反射された前記第二の光と前記参照アームからの光の合波からなる干渉信号に基づいて前記被検査物の偏光情報を示す断層画像を取得する取得手段とを有する光断層画像撮影装置であって、 前記サンプル光分割遅延手段は、1つの偏光ビームスプリッターと2つの全反射プリズムを備え、かつ、前記サンプル光が該偏光ビームスプリッターの中心から所定の距離離れた位置に入射することを特徴とする光断層画像撮影装置。
IPC (4件)：
G01N 21/17 ,  G01N 21/21 ,  A61B 3/10 ,  A61B 10/00
FI (4件)：
G01N21/17 630 ,  G01N21/21 Z ,  A61B3/10 R ,  A61B10/00 E
Fターム (14件)：
2G059AA05 ,  2G059BB12 ,  2G059EE05 ,  2G059EE09 ,  2G059FF02 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ13 ,  2G059JJ15 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ19 ,  2G059JJ22 ,  2G059JJ30 ,  2G059KK03 ,  2G059MM01
引用特許：
審査官引用 (4件)
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引用文献：
審査官引用 (1件)

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