特許
J-GLOBAL ID:201403066065319256

不揮発性記憶装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 日向寺 雅彦
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2012-192621
公開番号(公開出願番号):特開2014-049660
出願日: 2012年08月31日
公開日(公表日): 2014年03月17日
要約:
【課題】実施形態は、特性を向上させた不揮発性記憶装置を提供する。【解決手段】実施形態に係る不揮発性記憶装置は、第1導電層と、第2導電層と、抵抗変化層と、を含む。前記抵抗変化層は、前記第1導電層と前記第2導電層との間に設けられ、低抵抗状態と高抵抗状態との間を遷移可能であり、ハフニウム(Hf)およびジルコニウム(Zr)の少なくともいずれかと、バリウム(Ba)、ランタン(La)、ガドリニウム(Gd)およびルテチウム(Lu)からなる群より選択される少なくともいずれか1つの元素と、窒素(N)と、を含有する酸化物を含む。【選択図】図1
請求項(抜粋):
第1導電層と、 第2導電層と、 前記第1導電層と前記第2導電層との間に設けられ、低抵抗状態と高抵抗状態との間を遷移可能な抵抗変化層であって、ハフニウム(Hf)およびジルコニウム(Zr)の少なくともいずれかと、バリウム(Ba)、ランタン(La)、ガドリニウム(Gd)およびルテチウム(Lu)からなる群より選択される少なくともいずれか1つの元素と、窒素(N)と、を含有する酸化物を含む抵抗変化層と、 を備えた不揮発性記憶装置。
IPC (4件):
H01L 27/105 ,  H01L 27/10 ,  H01L 45/00 ,  H01L 49/00
FI (4件):
H01L27/10 448 ,  H01L27/10 481 ,  H01L45/00 Z ,  H01L49/00 Z
Fターム (12件):
5F083FZ10 ,  5F083GA10 ,  5F083GA11 ,  5F083JA35 ,  5F083JA36 ,  5F083JA38 ,  5F083JA39 ,  5F083JA40 ,  5F083JA43 ,  5F083JA45 ,  5F083LA04 ,  5F083LA05
引用特許:
出願人引用 (8件)
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審査官引用 (3件)

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