研究者

J-GLOBAL ID：201501079005874131 更新日: 2022年07月22日

山崎紘史

ヤマザキヒロシ | YAMAZAKI Hiroshi

研究分野 (1件)：計算機システム

研究キーワード (6件)：システムLSI , ドントケア判定 , テスト容易化設計 , 低消費電力テスト , テスト圧縮 , テストパターン生成

競争的資金等の研究課題 (3件)：

2019 - 2023 レイアウト設計を考慮した抵抗性オープン故障に対するテストパターン生成技術の研究
2018 - 2019 配置・配線情報を用いた抵抗性オープン故障に対するテストパターン生成に関する研究
2017 - 2018 低消費電力を考慮した静的テスト圧縮法に関する研究

MISC (5件)：

講演・口頭発表等 (57件)：

コントローラの遷移故障検出率向上のためのコントローラ拡大法
(組込み技術とネットワークに関するワークショップ ETNET2021 2021)
RTLハードウェア要素のテストスケジューリング情報を用いた多重目標故障テスト生成法
(ディペンダブルコンピューティング研究会 2021)
A Test Sensitization State Compaction Method on Controller Augmentation
(26th IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design 2020)
パーシャルMAX-SATを用いた抵抗性オープン故障に対するテスト生成法
(VLSI設計技術研究会 2020)
n入力マルチプレクサのテスト不能故障数削減のためのコントローラ拡大法
(ディペンダブルコンピューティング研究会 2020)

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学歴 (3件)：

2012 - 2015 日本大学生産工学研究科数理情報工学専攻
2010 - 2012 日本大学生産工学研究科数理情報工学専攻
2006 - 2010 日本大学生産工学部数理情報工学科

学位 (1件)：

博士(工学) (日本大学)

経歴 (2件)：

2019/04 - 2022/03 日本大学生産工学部教養・基礎科学系助教
2015/04 - 2019/03 日本大学生産工学部教養・基礎科学系助手

委員歴 (3件)：

2017/04 - 2021/03 一般社団法人情報処理学会システムとLSIの設計技術研究運営委員会
2020 - 2021 IEEE Workshop on RTL and High Level Testing Organizing Committee
2019 - 2020 IEEE Workshop on RTL and High Level Testing Organizing Committee

受賞 (3件)：

2020/11 - The 20th IEEE Workshop on RLT and High Level Testing Best Paper Award A Don't Care Identification-Filling Co-Optimization Method for Low Capture Power Testing Using Partial MaxSAT
2020/03 - 一般社団法人情報処理学会山下記念研究賞最大充足化問題を用いた抵抗性オープン故障に対するテスト生成法
2017/11 - 電子情報通信学会第4回研究会若手優秀講演賞拡張シフトレジスタを用いた強セキュア回路設計法

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