研究者
J-GLOBAL ID:201501098594993530   更新日: 2024年10月17日

MORARU DANIEL

モラル ダニエル | DANIEL MORARU
所属機関・部署:
職名: 准教授
ホームページURL (1件): https://wwp.shizuoka.ac.jp/morarulab/
研究分野 (6件): ナノマイクロシステム ,  電子デバイス、電子機器 ,  ナノ材料科学 ,  半導体、光物性、原子物理 ,  ナノ構造物理 ,  電気電子材料工学
競争的資金等の研究課題 (9件):
  • 2022 - 2025 Research on band-to-band tunneling via discrete dopants near pn junctions in Si nanodevices
  • 2022 - 2025 Research on band-to-band tunneling via discrete dopants near pn junctions in Si nanodevices
  • 2023 - 2024 原子レベルのシリコンpnダイオードの研究
  • 2022 - 2023 Siトンネルダイオードにおけるバンド間トンネリングの研究
  • 2020 - 2022 新原理エレクトロニクス創成に向けた電子系-格子系・高速エネルギー変換技術の確立
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論文 (100件):
  • K. Yamamura, G. Otake, A. Ouchi, D. Moraru, A. Nakamura, S. R. Tripathi. Ellipticity Enhancement of a Terahertz Wave Circular Polarizer Made of 3D Chiral Metamaterial. IEEE Photonics Technology Letters. 2024. 7. 457-460
  • Daris Alfafa, Daniel Moraru, Arief Udhiarto. Fabrication of organic light-emitting diodes (OLEDs) using the lamination method in a vacuum-free environment. International Journal of Electrical, Computer, and Biomedical Engineering (IJECBE). 2023. 2. 54-64
  • D. Moraru. Challenges and progress in the fabrication of silicon nanowire tunnel diodes. International Journal of Electrical, Computer, and Biomedical Engineering (IJECBE). 2023. 1. 57-65
  • S. Kamegaki, D. Smith, M. Ryu, S. H. Ng, H. Huang, P. Maasoumi, J. Vongsvivu, D. Moraru, T. Katkus, S. Juodkazis, et al. Four-polarisation camera for anisotropy mapping at three orientations: micro-grain of olivine. Coatings. 2023. 9. 1640_1-1640_12
  • D. Moraru, T. Kaneko, Y. Tamura, T. T. Jupalli, R. S. Singh, C. Pandy, L. Popa, F. Iacomi. Single-charge tunneling in codoped silicon nanodevices. Nanomaterials. 2023. 13. 1911_1-1911_15
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MISC (18件):
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書籍 (4件):
  • Nanoscale Silicon Devices
    Taylor & Francis Group 2015
  • Toward quantum FinFET
    Springer 2014
  • Single Atom Nanoelectronics
    Pan Stanford Publishing 2013
  • ナノシリコンの最新技術と応用展開
    シーエムシー出版 2010
講演・口頭発表等 (344件):
  • Study of metal-nanofilm coating of Kelvin force microscope cantilevers for measurements of potential in nanodevices
    (ISFAR-SU2024 2024)
  • Analysis of light-induced current noise in codoped silicon nano-transistors
    (ISFAR-SU2024 2024)
  • Study of organic and hybrid electronics based on solution-based deposition
    (ISFAR-SU2024 2024)
  • Quantum Tunneling Functionalities based on Silicon Nanomaterials and Nanodevices
    (International Conference on Advanced Functional Materials and Devices (ADMD-2024) 2024)
  • Study of the effects of the codoped region in silicon-on-insulator nanoscale pn diodes
    (25th Takayanagi Kenjiro Memorial Symposium 2023)
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学位 (4件):
  • 博士(工学) (静岡大学)
  • MSc (Master) (Al. I. Cuza University, Iasi, Romania)
  • BSc (Bachelor of Science) (Al. I. Cuza University, Iasi, Romania)
  • 経営学修士 (Hon.) (グロービス経営大学院)
委員歴 (3件):
  • 2022/04 - 現在 公益社団法人応用物理学会 応用物理学会代議員
  • 2022/02 - 2024/01 公益社団法人応用物理学会 応用物理学会代議員 (Representative Commitee of the JSAP)
  • 2020/02 - 2022/01 公益社団法人応用物理学会 応用物理学会代議員 (Representative Commitee of the JSAP)
受賞 (11件):
  • 2022/09 - 14th International Conference on Physics of Advanced Materials Sponsor's Prize for the best presentation by a young scientist (Nanomaterials) Deposition and manipulation of carbon nanotube bundles on a CMOS-compatible platform
  • 2021/03 - International Symposium toward the Future of Advanced Researches in Shizuoka University Best Presentation Award Study of single-electron tunneling transport through coupled-donnor molecule in low-doped SOI-FETs towards elevated temperature
  • 2020/03 - 応用物理学会 第11回応用物理学会シリコンテクノロジー分科会「論文賞」受賞 . Firdaus, T. Watanabe, M. Hori, D. Moraru, Y. Takahashi, A. Fujiwara and Y. Ono, “Electron aspirator using electron-electron scattering in nanoscale silicon”, Nature Communications, vol. 9, pp. 4813-1-8 (2018.12)
  • 2020/03 - 応用物理学会 シリコンテクノロジー分科会 第11回シリコンテクノロジー分科会論文賞 Electron aspirator using electron-electron scattering in nanoscale silicon
  • 2017/10 - 公益財団法人浜松電子工学奨励会 高柳研究奨励賞 シリコンナノデバイスにおける不純量子ドットを介した高温単電子トンネリングの研究
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所属学会 (3件):
IEEE ,  Institute of Electrical and Electronic Engineers (IEEE) Senior Member ,  応用物理学会
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