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J-GLOBAL ID:201502228611235593   整理番号:15A0700886

引張歪四元InAlGaN障壁を持つ新しい高電流密度のGaNベースのノーマリーオフのトランジスタ

Novel high-current density GaN-based normally off transistor with tensile-strained quaternary InAlGaN barrier
著者 (6件):
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巻: 54  号: 4S  ページ: 04DF09.1-04DF09.5  発行年: 2015年04月 
JST資料番号: G0520B  ISSN: 0021-4922  CODEN: JJAPB6  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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AlGaN障壁の代わりに四元InAlGaN障壁を使う高電流密度のGaNベースのノーマリーオフ型へテロ構造電界効果トランジスタ(HFET)を研究する。分極によって誘起される電荷を制御する必要がある故に,GaNベースのHFETでは高電流動作とノーマリーオフ動作の両方を得ることが難しい。四元InAlGaN障壁を使ってノーマリーオフ動作を得るためにはInAlGaN障壁を選択的に取り除いてP-AlGaN層をゲート電極として形成する。得たInAlGaNベースのHFETの閾電圧は,プラス1.1Vである。最大ドレイン電流は0.73A/mmの高さに達し,それは在来のAlGaNベースのノーマリーオフのゲート注入トランジスタ(GIT)の殆ど二倍である。(翻訳著者抄録)
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分類 (1件):
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トランジスタ 

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