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J-GLOBAL ID:201502287922734204   整理番号:15A0716504

異なる基板上に成膜したNafion薄膜の界面構造とプロトン輸送特性の評価

著者 (2件):
資料名:
巻: 95th  号:ページ: 721  発行年: 2015年03月11日 
JST資料番号: S0493A  ISSN: 0285-7626  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 短報  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
抄録/ポイント:
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本研究では,スパッタ法で作製した白金表面上にNafion薄膜を成膜し,酸化物基板上におけるNafion薄膜と比較評価することで,界面における構造とプロトン輸送特性の相関について調べた。Nafionの界面構造は,赤外分光法の一種である多角入射分解分光法(p-MAIRS),プロトン輸送特性の評価は,交流インピーダンス法により行った。Pt表面上とSiO2表面上に成膜したNafion薄膜のプロトン輸送特性を比較評価した結果,低湿度で異なるプロトン伝導度を示すことがわかった。p-MAIRSによる測定の結果,Pt表面およびMgO基板上において,異なる配向構造を有していることがわかった。(著者抄録)
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分類 (1件):
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JSTが定めた文献の分類名称とコードです
有機化合物の薄膜 

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