特許
J-GLOBAL ID：201503000212953515

検査装置

発明者：
高橋 正

高橋 正 について


出願人/特許権者：
日本電産リード株式会社

日本電産リード株式会社 について


代理人 (1件)： 桂川 直己
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-176094
公開番号（公開出願番号）：特開2015-045542
出願日： 2013年08月27日
公開日（公表日）： 2015年03月12日
要約：
【課題】絶縁検査の際に発生したスパーク及び部分放電を簡単な構成で検出できる検査装置の構成を提供する。【解決手段】定電流源11は、検査対象の配線パターンの一方であるプラス側パターンP1に電流を供給する。電流測定部16は、検査対象の配線パターンの他方であるマイナス側パターンP2に流れた電流Iを測定する。終了時間測定部21は、電流測定部16が測定した電流Iが検査終了閾値を下回るまでに要した時間である終了時間を測定する。判定部22は、絶縁検査終了時間が規定の時間を超えた場合に、スパーク又は部分放電が発生したと判定する。また、制御部10は、プラス側パターンP1に電流の供給を開始してから所定の制限時間内に、電流測定部16が測定した電流が所定の検査終了閾値を下回らなかった場合、検査対象の配線パターンP1,P2間の絶縁性が不十分であると判定する。【選択図】図2
請求項（抜粋）：
回路基板に形成された配線パターンの絶縁性を検査する検査装置であって、 検査対象の配線パターンの一方であるプラス側パターンに電流を供給する電流源と、 前記検査対象の配線パターンに流れた電流を測定する電流測定部と、 前記電流測定部で測定された電流の時間変化に基づいて、前記検査対象の配線パターンにスパーク又は部分放電が発生したか否かを判定する判定部と、 を備えることを特徴とする検査装置。
IPC (2件)：
G01R 31/02 ,  H05K 3/00
FI (2件)：
G01R31/02 ,  H05K3/00 T
Fターム (4件)：
2G014AA15 ,  2G014AB59 ,  2G014AC09 ,  2G014AC18
引用特許：
審査官引用 (8件)
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