特許
J-GLOBAL ID：201003062087090452
絶縁検査装置および絶縁検査方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
酒井 伸司
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-197281
公開番号（公開出願番号）：特開2010-032457
出願日： 2008年07月31日
公開日（公表日）： 2010年02月12日
要約：
【課題】絶縁状態を検査する際の検査コストを低減する。【解決手段】検査対象体の所定部位に検査用電圧を供給する電圧供給部と、所定部位に所定電圧値の検査用電圧が供給されている状態においてその絶縁状態を検査する検査部と、電圧供給部を制御して所定部位に検査用電圧を供給させると共に検査部を制御して検査対象体の絶縁状態を検査させる絶縁検査処理20を実行する制御部と、所定部位に対する検査用電圧の供給によって検査対象体において発生する部分放電を検出する検出部とを備え、制御部は、絶縁検査処理20時において、電圧供給部を制御して所定部位に供給させる検査用電圧の電圧値を所定電圧値まで徐々に上昇させると共に(ステップ22)、検出部によって検出された部分放電の発生回数が予め規定された所定条件を満たしたときに(ステップ24)電圧供給部を制御して検査用電圧の供給を停止させる(ステップ25)。【選択図】図2
請求項（抜粋）：
検査対象体の所定部位に検査用電圧を供給する電圧供給部と、前記所定部位に所定電圧値の前記検査用電圧が供給されている状態において前記検査対象体の絶縁状態を検査する検査部と、前記電圧供給部を制御して前記所定部位に前記検査用電圧を供給させると共に前記検査部を制御して前記検査対象体の絶縁状態を検査させる検査処理を実行する制御部とを備えた絶縁検査装置であって、
前記所定部位に対する前記検査用電圧の供給によって前記検査対象体において発生する部分放電を検出する検出部を備え、
前記制御部は、前記検査処理時において、前記電圧供給部を制御して前記所定部位に供給させる前記検査用電圧の電圧値を前記所定電圧値まで徐々に上昇させると共に、前記検出部によって検出された前記部分放電の発生回数が予め規定された所定条件を満たしたときに当該電圧供給部を制御して当該検査用電圧の供給を停止させる絶縁検査装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (11件)：
2G014AA15
, 2G014AA17
, 2G014AA25
, 2G014AB59
, 2G014AC09
, 2G014AC10
, 2G014AC19
, 2G015AA22
, 2G015BA08
, 2G015BA10
, 2G015CA04
出願人引用 (1件)
審査官引用 (8件)
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