特許
J-GLOBAL ID:201503000480415241

X線解析装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (5件): 勝沼 宏仁 ,  佐藤 泰和 ,  川崎 康 ,  関根 毅 ,  吉田 昌司
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2015-028961
公開番号(公開出願番号):特開2015-152607
出願日: 2015年02月17日
公開日(公表日): 2015年08月24日
要約:
【課題】必ずしも平坦でない、既知でない、または一定の形状でない、多種多様な試料を測定することができるX線解析装置を提供すること。【解決手段】柔軟シート60などの一次試料のX線解析では、装置を通して柔軟シートを移動させるための材料フィードスルー・システム20などの一次試料保持器を有する装置を使用する。X線源およびX線検出器を含むX線解析ヘッド6が、ロボット・アーム4に取り付けられている。ロボット・アームは3次元に移動し、その結果、解析ヘッドは、材料フィードスルー・システムによって柔軟シートが装置を通って運ばれているとき、柔軟シートを測定する位置に導かれ得る。【選択図】図1
請求項(抜粋):
試料をX線解析するための装置であって、 前記試料を保持するための一次試料保持器と、 X線源およびX線検出器を含むX線解析ヘッドと、 前記装置に取り付けられたロボット・アームであって、前記X線解析ヘッドが取り付けられており、前記X線解析ヘッドを、前記試料の測定位置へ持ってくることができるように、3次元の直線方向と回転方向の両方に動かすように構成された、ロボット・アームとを備え、 前記一次試料保持器が、前記装置を通して柔軟シートを移動させるための材料フィードスルー・システムである装置。
IPC (2件):
G01N 23/223 ,  G01N 23/20
FI (2件):
G01N23/223 ,  G01N23/20
Fターム (10件):
2G001AA01 ,  2G001BA04 ,  2G001BA18 ,  2G001CA01 ,  2G001DA02 ,  2G001JA01 ,  2G001KA12 ,  2G001LA20 ,  2G001MA05 ,  2G001QA01
引用特許:
審査官引用 (7件)
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