特許
J-GLOBAL ID:201503012914734004
汚染物除去装置及び方法
発明者:
,
,
出願人/特許権者:
代理人 (7件):
辻居 幸一
, 熊倉 禎男
, 弟子丸 健
, 井野 砂里
, 松下 満
, 倉澤 伊知郎
, 山本 泰史
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2015-512839
公開番号(公開出願番号):特表2015-525464
出願日: 2013年05月16日
公開日(公表日): 2015年09月03日
要約:
基板ドライ洗浄装置、基板ドライ洗浄システム、及び基板を洗浄する方法を開示する。基板ドライ洗浄システムは、基板支持体及び反応種発生器を含む。反応種発生器は、導管の出口まで延びる第1の流れチャネルを形成し、導管の出口が基板支持体に対面する第1の導管と、第1の電極と、第1の電極と対面し、第1の電極との間に第1の流れチャネルが配置された第2の電極と、第1の電極と第1の流れチャネルの間に配置された第1の不活性壁と、第2の電極と第1の流れチャネルの間に配置された第2の不活性壁とを含む。【選択図】図8
請求項(抜粋):
第1の流れチャネルを形成し、該第1の流れチャネルと流体連通する第1の出口開口を更に形成する第1の導管と、
容器に配置された第1の電極と、
前記第1の電極と対面し、該第1の電極との間に前記第1の流れチャネルが配置された第2の電極と、
低い大気圧融点を有し、前記第1の電極と前記容器の間の間隙を充填する金属と、
を含むことを特徴とする基板ドライ洗浄装置。
IPC (5件):
H01L 21/304
, B08B 7/00
, H05H 1/30
, H05H 1/24
, H05H 3/02
FI (6件):
H01L21/304 645C
, B08B7/00
, H01L21/304 645Z
, H05H1/30
, H05H1/24
, H05H3/02
Fターム (38件):
2G084AA03
, 2G084AA13
, 2G084BB11
, 2G084CC19
, 2G084CC34
, 2G084DD12
, 2G084DD13
, 2G084DD18
, 2G084DD22
, 2G084DD63
, 2G084DD65
, 2G084FF02
, 2G084FF13
, 2G084FF15
, 2G084FF31
, 2G084FF38
, 2G084GG02
, 2G084GG03
, 2G084GG07
, 2G084GG18
, 2G084GG23
, 2G084GG29
, 2G084HH09
, 2G084HH36
, 2G085BB17
, 2G085EA08
, 3B116AA01
, 3B116BA06
, 3B116BB32
, 3B116BB89
, 3B116BC01
, 5F157AA42
, 5F157AA43
, 5F157BD35
, 5F157BD43
, 5F157BG33
, 5F157BG35
, 5F157BG39
引用特許:
出願人引用 (6件)
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審査官引用 (1件)
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