点灯試験装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：木内光春
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-265213
公開番号（公開出願番号）：特開2015-121456
出願日： 2013年12月24日
公開日（公表日）： 2015年07月02日
要約：

【課題】発光素子のサイズが小さくなっても点灯試験における良好に位置不動を維持できる点灯試験装置を提供する。【解決手段】点灯試験装置1は、発光素子Wを保持する保持部21を点灯試験ポジションに移動させる。点灯試験ポジションでは、保持部21の貫通孔に保持部21の下方からプローブピンを差し込み、保持部21上の発光素子Wにプローブピンを接触させる。点灯試験ポジションでは、更に、クランプ部で保持部21上の発光素子Wを側面から挟み込み、プローブピンの接触荷重に抗するための静止摩擦力を発光素子Wに与える。そして、保持部21の上方に位置する受光装置で発光素子Wの発光を受光する。【選択図】図2

請求項（抜粋）：

発光素子の光学特性を試験する点灯試験装置であって、発光素子を載置する測定ベースと、前記測定ベース側に設けられるプローブと、前記測定ベースの上方に位置する受光手段と、前記測定ベース上の発光素子を側面から挟み込んで、発光素子と前記プローブの接触荷重に抗するための静止摩擦力を前記発光素子に与えるクランプ手段と、を備えること、を特徴とする点灯試験装置。

IPC (5件)：

G01M 11/00 , H01L 21/683 , H01L 21/677 , H01L 33/00 , G01J 1/00

FI (5件)：

G01M11/00 T , H01L21/68 N , H01L21/68 A , H01L33/00 K , G01J1/00 C

Fターム (30件)：

2G065AB28 , 2G065BA04 , 2G065BA06 , 2G065DA02 , 2G086EE03 , 5F131AA04 , 5F131BA39 , 5F131CA01 , 5F131DA03 , 5F131DA32 , 5F131DA33 , 5F131DA35 , 5F131DA42 , 5F131DB22 , 5F131DB57 , 5F131DB62 , 5F131DB76 , 5F131EA02 , 5F131EA22 , 5F131EA24 , 5F131EB01 , 5F131EB35 , 5F131KA14 , 5F131KB09 , 5F131KB53 , 5F131KB54 , 5F141AA35 , 5F141AA46 , 5F241AA35 , 5F241AA46

引用特許：

審査官引用 (6件)

2波長レーザダイオード検査方法および検査装置
公報種別：公開公報出願番号：特願2001-318139 出願人：シャープ株式会社
全光量測定システム、および、全光量測定方法
公報種別：公開公報出願番号：特願2010-165792 出願人：パナソニック株式会社
LEDチップの光学特性測定装置
公報種別：公開公報出願番号：特願2004-040013 出願人：星和電機株式会社

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