特許
J-GLOBAL ID：201503017596953712
情報処理装置、情報処理方法、及び、プログラム
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (6件)：
山田 威一郎
, 立花 顕治
, 田中 順也
, 松井 宏記
, 山下 未知子
, 桝田 剛
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2014-097604
公開番号（公開出願番号）：特開2015-215445
出願日： 2014年05月09日
公開日（公表日）： 2015年12月03日
要約：
【課題】拡散反射によって発現する再帰反射のメカニズムを定量的に解析する技術を提供する。【解決手段】本発明の一側面に係る情報処理装置は、入射光の属性、対象物の表面に形成される凹凸形状、及び全域的拡散反射率の基準値を示す条件情報を取得する条件取得部と、取得した条件情報により示される入射光及び対象物の条件下での光学シミュレーションに基づいて、対象物の表面における局所的な平面で生じる入射光の拡散反射の挙動をシミュレートにすることによって、全域的拡散反射率の値及び再帰反射の程度を算定するシミュレーション部と、全域的拡散反射率の算定値が基準値付近か否かを判定し、全域的拡散反射率の算定値が基準値付近であると判定される場合に、算定された再帰反射の程度を、対象物の表面で生じる再帰反射の程度として特定する再帰反射性能特定部と、を備える。【選択図】図6
請求項（抜粋）：
対象物の表面における局所的な平面での入射光の拡散反射を追跡することで該対象物の表面で生じる該入射光の全域的な拡散反射をシミュレートする所定の光学シミュレーションの条件を示す条件情報として、該対象物に入射する該入射光の属性、該対象物の表面に形成される凹凸形状、及び該対象物の表面で生じる全域的な拡散反射の程度を示す全域的拡散反射率の基準値を示す情報を取得する条件取得部と、
取得した前記条件情報により示される前記入射光及び前記対象物の条件下での前記光学シミュレーションに基づいて、前記凹凸形状の形成された前記対象物の表面における局所的な平面で生じる前記入射光の前記拡散反射の挙動をシミュレートにすることによって、前記対象物の表面における前記全域的拡散反射率の値及び前記拡散反射に起因して発現する再帰反射の程度を算定するシミュレーション部と、
前記光学シミュレーションにより算定される前記全域的拡散反射率の算定値が前記条件情報に含まれる基準値付近か否かを判定し、前記全域的拡散反射率の算定値が前記基準値付近であると判定される場合に、前記光学シミュレーションにより算定される前記再帰反射の程度を、前記条件情報により示される前記凹凸形状の形成された前記対象物の表面で生じる再帰反射の程度として特定する再帰反射性能特定部と、
を備える、
情報処理装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (1件)：
引用特許：
引用文献：
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