特許
J-GLOBAL ID：201503035376523528

透磁率センサ及び透磁率検出方法

発明者：
大隅 和彦

大隅 和彦 について

, 
丸山 雄三

丸山 雄三 について

, 
下江 治

下江 治 について


出願人/特許権者：
日立金属株式会社

日立金属株式会社 について


代理人 (2件)： 河野 英仁 ,  河野 登夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2014-191360
公開番号（公開出願番号）：特開2015-099144
出願日： 2014年09月19日
公開日（公表日）： 2015年05月28日
要約：
【課題】小型かつ簡単な構成であっても、高精度に被検出物の透磁率の変化を検出できる透磁率センサ、及び、透磁率センサを用いた透磁率検出方法を提供する。【解決手段】第1コイル1及び第2コイル2と、第1コイル1を含んで発振する第1発振回路6と、第2コイル2を含んで発振する第2発振回路7と、第1発振回路6及び第2発振回路7夫々における発振周波数を計測する計測部41と、計測部41にて計測した発振周波数の差分を算出する算出部42と、算出部42にて算出した差分を透磁率に変換する変換部43とを備える。【選択図】図4
請求項（抜粋）：
被検出物の透磁率を検出する透磁率センサにおいて、 前記被検出物から磁気を受ける第1コイルを含んで発振する第1発振回路と、 前記被検出物から磁気を受ける第2コイルを含んで発振する第2発振回路と、 前記第1発振回路及び第2発振回路夫々における発振周波数を計測する計測手段と、 該計測手段にて計測した発振周波数の差分を算出する算出手段と、 該算出手段にて算出した差分を透磁率に変換する変換手段と を備えることを特徴とする透磁率センサ。
IPC (4件)：
G01N 27/72 ,  G01R 33/12 ,  G01R 33/02 ,  G03G 15/08
FI (4件)：
G01N27/72 ,  G01R33/12 Z ,  G01R33/02 B ,  G03G15/08 115
Fターム (17件)：
2G017AA07 ,  2G017AC03 ,  2G017AC06 ,  2G017AD04 ,  2G017BA03 ,  2G017BA05 ,  2G053AA29 ,  2G053AB07 ,  2G053BA04 ,  2G053BC02 ,  2G053BC14 ,  2G053CA03 ,  2G053CA19 ,  2G053DA07 ,  2G053DB03 ,  2H077DA10 ,  2H077DA54
引用特許：
出願人引用 (4件)
全件表示
審査官引用 (4件)
全件表示

前のページに戻る

TOP

BOTTOM