特許

J-GLOBAL ID：201503064447293618

保護膜の性能評価方法および保護膜の性能評価装置

発明者： 平田 さやか ,  長瀬 直樹 ,  砂田 聡
出願人/特許権者： 出光興産株式会社 ,  国立大学法人富山大学
代理人 (1件)： 特許業務法人樹之下知的財産事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-258511
公開番号（公開出願番号）：特開2015-114287
出願日： 2013年12月13日
公開日（公表日）： 2015年06月22日
要約：

【課題】金属材料をはじめ種々の導電性材料に形成させて用いられる保護膜について、定量的に精度よく保護性能を評価する方法および評価装置を提供する。【解決手段】本発明は、導電性材料の表面に形成された保護膜の性能を評価する方法であって、前記保護膜の表面に導電性液体膜を形成し、前記導電性液体膜と前記導電性材料の間に電流を印加することにより電位-電流曲線を求め、前記導電性材料のみかけの腐食速度を測定することを特徴とする。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

導電性材料の表面に形成された保護膜の性能を評価する方法であって、 前記保護膜の表面に導電性液体膜を形成し、 前記導電性液体膜と前記導電性材料の間に電流を印加することにより電位-電流曲線を求め、前記導電性材料のみかけの腐食速度を測定する ことを特徴とする保護膜の性能評価方法。

IPC (2件)：

G01N 17/02 ,  G01N 27/00

FI (2件)：

G01N17/02 ,  G01N27/00 L

Fターム (12件)：

2G050AA04 ,  2G050BA01 ,  2G050EA06 ,  2G050EA10 ,  2G050EB02 ,  2G050EB04 ,  2G050EC01 ,  2G060AA06 ,  2G060AE29 ,  2G060AF09 ,  2G060AF15 ,  2G060AG15

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 被膜劣化評価方法および装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2010-223800   出願人：日本電信電話株式会社
• 保護膜の性能評価方法および保護膜の性能評価装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2011-209547   出願人：出光興産株式会社, 国立大学法人富山大学
• 腐食状況調査方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2011-085105   出願人：日本電信電話株式会社
• 金属材質の腐食測定装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-132674   出願人：三菱化学株式会社

引用文献：

審査官引用 (1件)

• 水溶液系の腐食現象の計測技術