文献
J-GLOBAL ID:201602008543300568   整理番号:58A0054215

拡張目盛計器へのゼナダイオードの応用

On the Application of Zener Diodes to Expanded Scale Instruments.
著者 (1件):
資料名:
巻: 1958  号: 38  ページ: 535-539  発行年: 1958年 
JST資料番号: A0339A  資料種別: 逐次刊行物 (A)
発行国: アメリカ合衆国 (USA) 
抄録/ポイント:
抄録/ポイント
文献の概要を数百字程度の日本語でまとめたものです。
部分表示の続きは、JDreamⅢ(有料)でご覧頂けます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。
シリコンのpn接合は安定なゼナ特性を有し,安定化電源の基準電圧として広く用いられているが,本論文は同じ原理にたつてそのゼナ電圧と被測電圧の何分の一かとの差を測定するいわゆる拡大目盛の電圧計について述べたものである。直流,交流および電圧,電流いずれの計器にも適当な回路によって定格値の近傍を拡大目盛で高確度に測定することができる
タイトルに関連する用語 (4件):
タイトルに関連する用語
J-GLOBALで独自に切り出した文献タイトルの用語をもとにしたキーワードです

前のページに戻る