特許
J-GLOBAL ID：201603002031094376
X線回折装置、X線回折測定方法および制御プログラム
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
福地 武雄
, 白川 洋一
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-086740
公開番号（公開出願番号）：特開2014-211328
特許番号：特許第6033160号
出願日： 2013年04月17日
公開日（公表日）： 2014年11月13日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 X線を試料に照射し、各角度範囲においてフレーム撮影をするX線回折装置であって、
シャッターを閉じることなくスキャンすることでフレーム撮影を制御する制御部と、
前記フレーム撮影により、半導体ピクセル検出器で検出された各フレームの検出データを取り込むデータ取得部と、
前記スキャン毎に前記取り込んだ検出データをフレーム毎に積算するフレーム積算部と、
前記スキャン毎に前記積算された検出データが十分な強度か否かを判定する判定部と、を備え、
前記制御部は、前記積算された検出データが十分な強度である場合には測定を終了し、前記積算された検出データが十分な強度でない場合には再度スキャンし、前記積算された検出データに、前記再度スキャンして得られた検出データをさらに積算するように制御することを特徴とするX線回折装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
引用特許：
出願人引用 (5件)
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審査官引用 (5件)
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