特許
J-GLOBAL ID:201603011944983557
テラヘルツ放射線を使用してシート誘電体サンプルの少なくとも1つの特性を判定するためのシステム
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
特許業務法人浅村特許事務所
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2016-530903
公開番号(公開出願番号):特表2016-537630
出願日: 2014年11月14日
公開日(公表日): 2016年12月01日
要約:
テラヘルツ放射線を使用してシート誘電体サンプルの少なくとも1つの特性を判定するためのシステムは、テラヘルツ放射線のパルスを出力するように構成された少なくとも1つのテラヘルツ送信器と、テラヘルツ放射線のパルスの少なくとも一部を受信するように構成されたテラヘルツ受信器であって、テラヘルツ受信器によって受信されたテラヘルツ放射線に基づいて測定波形を出力するように構成されたテラヘルツ受信器と、テラヘルツ受信器と通信する制御ユニットとを含む。ここで、制御ユニットは、測定波形の少なくとも1つの関心領域を選択し、測定波形の少なくとも1つの関心領域をモデル波形と比較し、モデル波形の少なくとも1つのパラメータを変更してモデル波形と測定波形の差を最小限にするように構成される。
請求項(抜粋):
テラヘルツ放射線を使用してシート誘電体サンプルの少なくとも1つの特性を判定するためのシステムであって、
前記シート誘電体サンプルにテラヘルツ放射線のパルスを出力するように構成された少なくとも1つのテラヘルツ送信器と、
前記シート誘電体サンプルから前記テラヘルツ放射線のパルスの少なくとも一部を受信するように構成されたテラヘルツ受信器であって、前記テラヘルツ受信器によって受信された前記テラヘルツ放射線に基づいて測定波形を出力するように構成されたテラヘルツ受信器と、
前記テラヘルツ受信器と通信する制御ユニットであって、前記テラヘルツ受信器から前記測定波形を受信するように構成された制御ユニットと、
を備え、前記制御ユニットが、
前記測定波形の少なくとも1つの関心領域を選択し、
前記測定波形の前記少なくとも1つの関心領域をモデル波形と比較し、
モデル波形の少なくとも1つのパラメータを変更して前記モデル波形と前記測定波形の差を最小限にし、
前記モデル波形が前記測定波形にベスト・マッチするように、前記モデル波形の前記少なくとも1つのパラメータを判定する
ように構成されている、システム。
IPC (1件):
FI (2件):
G01N21/3581
, G01N21/3586
Fターム (27件):
2G059AA01
, 2G059AA02
, 2G059AA03
, 2G059BB10
, 2G059BB15
, 2G059CC09
, 2G059EE01
, 2G059EE02
, 2G059EE03
, 2G059EE05
, 2G059EE12
, 2G059FF04
, 2G059GG01
, 2G059GG08
, 2G059HH01
, 2G059HH02
, 2G059HH06
, 2G059JJ11
, 2G059JJ12
, 2G059JJ13
, 2G059JJ17
, 2G059JJ18
, 2G059JJ19
, 2G059JJ22
, 2G059KK01
, 2G059LL01
, 2G059MM01
引用特許:
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