平角エナメル線の外観検査方法および平角エナメル線の外観検査装置

発明者： ,
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2014-241461
公開番号（公開出願番号）：特開2016-102724
出願日： 2014年11月28日
公開日（公表日）： 2016年06月02日
要約：

【課題】平角エナメル線の表面欠陥を精度良く検出することが可能な、平角エナメル線の外観検査方法および平角エナメル線の外観検査装置を提供する。【解決手段】長手方向に移動する平角エナメル線の平面および角面に明視野撮像光を照射し、前記平面および前記角面の明視野像を撮像し、前記平角エナメル線の長手方向に沿って暗視野撮像光を照射し、前記平面および前記角面の暗視野像を撮像し、前記明視野像と前記暗視野像から、前記平面および前記角面における欠陥の有無を判定する。【選択図】図2

請求項（抜粋）：

長手方向に移動する平角エナメル線の平面および角面に明視野撮像光を照射し、前記平面および前記角面の明視野像を撮像する工程と、前記平角エナメル線の長手方向に沿って暗視野撮像光を照射し、前記平面および前記角面の暗視野像を撮像する工程と、前記明視野像と前記暗視野像から、前記平面および前記角面における欠陥の有無を判定する工程とを有することを特徴とする平角エナメル線の外観検査方法。

IPC (1件)：

G01N 21/892

FI (1件)：

G01N21/892 C

Fターム (17件)：

2G051AA44 , 2G051AB07 , 2G051AC02 , 2G051BA02 , 2G051BA20 , 2G051BB05 , 2G051CA04 , 2G051CA08 , 2G051CB01 , 2G051DA06 , 2G051EA11 , 2G051EA14 , 2G051EA16 , 2G051EA25 , 2G051EB01 , 2G051ED09 , 2G051ED15

引用特許：

出願人引用 (8件)

特開昭55-009170
特開昭50-161293
特開昭54-079693

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