特許

J-GLOBAL ID：201603014138693785

劣化診断機能を有する電力変換装置

発明者： 安東 正登 ,  小川 和俊 ,  中村 卓義 ,  石川 勝美 ,  安井 感
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (3件)： 井上 学 ,  戸田 裕二 ,  岩崎 重美
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2014-121968
公開番号（公開出願番号）：特開2016-005289
出願日： 2014年06月13日
公開日（公表日）： 2016年01月12日
要約：

【課題】 劣化の有無を検出するためには、IGBTおよびMOSFETを対象として温度に依存しない特性を用いて劣化診断する手段を検討する必要がある。【解決手段】 ゲート端子に入力される制御信号に応じて主電流が変化するスイッチング素子を含むスイッチング装置において、予め定められた基準電流と前記主電流が一致するときに前記スイッチング素子のゲート電圧を予め定められた診断電圧に切り替えるゲート電圧切替手段と、を有し、前記ゲート電圧切替手段が動作したときの主電流が前記基準電流と異なるとき、前記スイッチング素子のゲート端子にゲート停止の制御信号を入力する、またはアラームを出力する診断手段を有することを特徴とするスイッチング装置。【選択図】 図2

請求項（抜粋）：

ゲート端子に入力される制御信号に応じて主電流が変化するスイッチング素子を含むスイッチング装置において、 予め定められた基準電流と前記主電流が一致するときに前記スイッチング素子のゲート電圧を予め定められた診断電圧に切り替えるゲート電圧切替手段と、を有し、 前記ゲート電圧切替手段が動作したときの主電流が前記基準電流と異なるとき、前記スイッチング素子のゲートを停止させる、またはアラームを出力する診断手段を有することを特徴とするスイッチング装置。

IPC (4件)：

H02M 1/00 ,  H02M 7/48 ,  H03K 17/00 ,  H03K 17/08

FI (4件)：

H02M1/00 C ,  H02M7/48 M ,  H03K17/00 B ,  H03K17/08 Z

Fターム (41件)：

5H007AA17 ,  5H007BB06 ,  5H007CA01 ,  5H007CA02 ,  5H007CB02 ,  5H007CB05 ,  5H007CC23 ,  5H007DB01 ,  5H007DB09 ,  5H007DC02 ,  5H007FA00 ,  5H007FA13 ,  5H007FA19 ,  5H007GA08 ,  5H740BA11 ,  5H740BA12 ,  5H740BB05 ,  5H740BB09 ,  5H740BB10 ,  5H740BC01 ,  5H740BC02 ,  5H740HH06 ,  5H740JA01 ,  5H740JB01 ,  5H740KK01 ,  5H740MM11 ,  5H740NN17 ,  5J055AX15 ,  5J055AX32 ,  5J055BX16 ,  5J055CX20 ,  5J055DX12 ,  5J055EY01 ,  5J055EY10 ,  5J055EY12 ,  5J055EY13 ,  5J055EY21 ,  5J055EZ12 ,  5J055FX19 ,  5J055GX01 ,  5J055GX04

引用特許：

審査官引用 (4件)

• スイツチング素子のゲート制御装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-251762   出願人：株式会社東芝
• 電力用素子の故障検出装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2010-098004   出願人：三菱電機株式会社
• レーダ装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2007-091302   出願人：TDK株式会社
• 半導体装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-184828   出願人：松下電器産業株式会社