特許
J-GLOBAL ID：201603017525128491
マススペクトル解析システム,方法およびプログラム
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
東京UIT国際特許業務法人
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2015-078992
公開番号（公開出願番号）：特開2016-200435
出願日： 2015年04月08日
公開日（公表日）： 2016年12月01日
要約：
【課題】質量分析装置から出力されるスキャン生データに基づいて,適切な代表マススペクトルを自動的に作成するマススペクトル解析システムを提供する。【解決手段】質量電荷比,イオン強度および測定時間の3次元測定データを入力し,入力測定データの指定された質量電荷比に関し,イオン強度の総和が最大となる時間帯を算出し,検出された最良時間帯の入力測定データのイオン強度に基づいて代表マススペクトルを作成する。検出された最良時間帯および作成された代表マススペクトルは表示装置に表示される。また,作成された代表マススペクトルにラベル情報(サンプルに関する情報,分析条件等)を付加して記憶する。【選択図】図10
請求項（抜粋）：
質量電荷比,イオン強度および測定時間の3次元測定データを入力する測定データ入力手段,
入力測定データの指定された質量電荷比に関し,イオン強度の総和が最大となる時間帯を算出する最良時間帯検出手段,ならびに
検出された最良時間帯の入力測定データのイオン強度に基づいて代表マススペクトルを作成する代表マススペクトル作成手段,
を備えるマススペクトル解析システム。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (5件)：
2G041CA01
, 2G041GA01
, 2G041MA02
, 2G041MA04
, 2G041MA06
