特許
J-GLOBAL ID:201603021095983624
X線画像化装置及びX線画像化方法
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
特許業務法人はるか国際特許事務所
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2012-147719
公開番号(公開出願番号):特開2014-008281
特許番号:特許第5907824号
出願日: 2012年06月29日
公開日(公表日): 2014年01月20日
請求項(抜粋):
【請求項1】発散するX線を出射する、X線発生部と、
前記X線が照射される試料に対して前記X線発生部の反対側に配置されるとともに、前記試料の透過画像を検出する検出領域を有する、2次元検出器と、
前記試料を配置する、支持台と、
前記支持台を搭載し、前記2次元検出器の前記検出領域の平面に沿って、前記支持台を面内移動させることが可能な、ステージと、
前記2次元検出器が検出する前記試料の複数の透過画像に基づいて、合成透過画像データを生成する、制御部と、
を備える、X線画像化装置であって、
前記試料は、前記X線がほぼ平行となる領域に配置され、
前記制御部は、前記試料の異なる複数の位置における透過画像を張り合わせて、合成透過画像データを生成し、
前記X線発生部から前記試料までの距離をL、前記試料から前記2次元検出器までの距離をdとするとき、d/Lが0.1以下であり、
前記試料に入射して、前記試料を貫通して、前記2次元検出器の前記検出領域へ達するX線について、試料の入射箇所から出射箇所までの距離をt、前記検出領域の法線方向とX線の進行方向がなす角をθとするとき、tが前記2次元検出器の空間分解能より十分に大きく、t・θが前記2次元検出器の空間分解能程度以下である、
ことを特徴とする、X線画像化装置。
IPC (5件):
G01N 23/04 ( 200 6.01)
, A61B 6/00 ( 200 6.01)
, A61B 6/03 ( 200 6.01)
, G06T 1/00 ( 200 6.01)
, G01T 7/00 ( 200 6.01)
FI (7件):
G01N 23/04
, G01N 23/04 320
, A61B 6/00 330 Z
, A61B 6/03 360 Q
, G06T 1/00 290 B
, G06T 1/00 315
, G01T 7/00 C
引用特許:
出願人引用 (10件)
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X線ホログラフィックCT装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平6-004371
出願人:株式会社日立製作所
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X線撮影装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2005-145905
出願人:株式会社島津製作所
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X線断層撮像装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2002-163436
出願人:ソニー株式会社
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審査官引用 (10件)
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X線透視検査装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2007-277639
出願人:東芝ITコントロールシステム株式会社
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X線ホログラフィックCT装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平6-004371
出願人:株式会社日立製作所
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X線撮影装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2005-145905
出願人:株式会社島津製作所
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