特許
J-GLOBAL ID:201103009342668900

放射線検査処理装置、放射線検査処理方法および放射線検査処理プログラム

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 岩上 渉 ,  吉田 大
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2010-033106
公開番号(公開出願番号):特開2011-169711
出願日: 2010年02月18日
公開日(公表日): 2011年09月01日
要約:
【課題】放射線の経路に存在する隙間に依存しない内部欠陥の評価指標を得る。【解決手段】放射線検査処理装置であって、金属製品における着目位置に対して複数の異なる経路によって放射線を透過させる照射手段と、前記着目位置を透過する前記放射線の透過量を前記経路のそれぞれについて検出する検出手段と、前記透過量を平均した平均透過量を算出する平均透過量算出手段と、を備える。【選択図】図5
請求項(抜粋):
金属製品における着目位置に対して複数の異なる経路によって放射線を透過させる照射手段と、 前記着目位置を透過する前記放射線の透過量を前記経路のそれぞれについて検出する検出手段と、 前記透過量を平均した平均透過量を算出する平均透過量算出手段と、を備える放射線検査処理装置。
IPC (3件):
G01N 23/04 ,  B22D 45/00 ,  B22D 46/00
FI (3件):
G01N23/04 ,  B22D45/00 A ,  B22D46/00
Fターム (20件):
2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001DA01 ,  2G001DA09 ,  2G001FA01 ,  2G001FA06 ,  2G001FA09 ,  2G001GA04 ,  2G001GA06 ,  2G001HA13 ,  2G001HA15 ,  2G001JA07 ,  2G001KA03 ,  2G001KA04 ,  2G001LA02 ,  2G001PA11 ,  2G001PA16 ,  2G088GG19 ,  2G088HH07
引用特許:
審査官引用 (14件)
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