研究者

J-GLOBAL ID：201701005466995684 更新日: 2023年01月04日

藤井麻樹子

Fujii Makiko

所属機関・部署：
職名：講師

研究分野 (2件)：量子ビーム科学 , 分析化学

研究キーワード (3件)：環境計測化学 , 二次イオン質量分析法 , イオンビーム

論文 (25件)：

Makiko Fujii, Rie Shishido, Takaya Satoh, Shigeru Suzuki, Jiro Matsuo. Effects of molecular weight and cationization agent on the sensitivity of Bi cluster secondary ion mass spectrometry. RAPID COMMUNICATIONS IN MASS SPECTROMETRY. 2016. 30. 14. 1722-1726
Yuta Yokoyama, Satoka Aoyagi, Makiko Fujii, Jiro Matsuo, John S. Fletcher, Nicholas P. Lockyer, John C. Vickerman, Melissa K. Passarelli, Rasmus Havelund, Martin P. Seah. Peptide Fragmentation and Surface Structural Analysis by Means of ToF-SIMS Using Large Cluster Ion Sources. ANALYTICAL CHEMISTRY. 2016. 88. 7. 3592-3597
Kusakari M., Fujii M., Seki T., Aoki T., Matsuo J. Observation of Liquid Water with Ambient SIMS. Transactions of the Materials Research Society of Japan. 2016. 41. 3. 309-311
Shishido, R., Fujii, M., Seki, T., Aoki, T., Matsuo, J., Suzuki, S. Yields and images of secondary ions from organic materials by different primary Bi ions in time-of-flight secondary ion mass spectrometry. Rapid Communications in Mass Spectrometry. 2016. 30. 4. 476-482
Masakazu Kusakari, Makiko Fujii, Toshio Seki, Takaaki Aoki, Jiro Matsuo. Development of ambient SIMS using mega-electron-volt-energy ion probe. Journal of Vacuum Science & Technology B, Nanotechnology and Microelectronics: Materials, Processing, Measurement, and Phenomena. 2016. 34. 3

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MISC (3件)：

Kusakari M., Fujii M., Seki T., Aoki T., Matsuo J. Development of ambient SIMS using MeV-energy ion probe. Annual report of Quantum Science and Engineering Center. 2016. 18. 21-25
Fujii M., Kusakari M., Seki T., Aoki T., Matsuo J. Lipid Compounds Analysis with MeV-SIMS Apparatus. Annual report of Quantum Science and Engineering Center. 2014. 16. 22-24
野島雅, 藤井麻樹子, 石崎泰裕, 尾張真則, 二瓶好正. Shave-off深さ方向分析法におけるメモリー効果の低減. 分析化学. 2008. 57. 1. 67-69

学位 (1件)：

博士(工学) (東京大学)

所属学会 (3件)：

日本質量分析学会 , 日本分析化学会 , 応用物理学会

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