研究者
J-GLOBAL ID:201701019776575759   更新日: 2020年09月14日

三宅 庸資

ミヤケ ヨウスケ | Miyake Yousuke
所属機関・部署:
職名: 研究職員
研究分野 (2件): 情報ネットワーク ,  計算機システム
研究キーワード (5件): VLSIの設計とテスト ,  ディペンダブルコンピューティング ,  FPGA ,  温度センサ ,  LSIテスト
競争的資金等の研究課題 (4件):
  • 2019 - 2021 VLSIにおける劣化影響を低減可能なデジタル温度電圧センサに関する研究
  • 2018 - 2021 フィールド運用中のアダプティブテストに基づくVLSIの予防安全
  • 2017 - 2019 小型で高速動作可能なデジタル温度電圧センサの開発
  • 耐故障設計
論文 (16件):
  • Masayuki Gondo, Yousuke Miyake, Takaaki Kato, Seiji Kajihara. On Evaluation for Aging-Tolerant Ring Oscillators with Accelerated Life Test and Its Application to Digital Sensor. Proc. IEEE Asian Test Symposium (ATS), (Accepted). 2020
  • Yousuke Miyake, Takaaki Kato, Seiji Kajihara. Path Delay Measurement with Correction for Temperature And Voltage Variations. Proc. IEEE International Test Conference in Asia (ITC-Asia), (Accepted). 2020
  • Yousuke Miyake, Takaaki Kato, Seiji Kajihara, Masao Aso, Haruji Futami, Satoshi Matsunaga, Yukiya Miura. On-Chip Delay Measurement for Degradation Detection And Its Evaluation under Accelerated Life Test. Proc. IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS). 2020
  • Poki Chen, Jian-Ting Lan, Ruei-Ting Wang, Nguyen My Qui, John Carl Joel S. Marquez, Seiji Kajihara, Yousuke Miyake. High-Precision PLL Delay Matrix with Overclocking and Double Data Rate for Accurate FPGA Time-to-Digital Converters. IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems. 2020. 28. 4. 904-913
  • Yousuke Miyake, Yasuo Sato, Seiji Kajihara. On-Chip Delay Measurement for In-Field Test of FPGAs. Proc. IEEE Pacific Rim International Symposium on Dependable Computing (PRDC). 2019. 130-137
もっと見る
MISC (22件):
  • 三宅庸資, 梶原誠司. フィールドテスト向けオンチップ遅延測定回路のIoT適用. 電子情報通信学会2020年総合大会論文集. 2020. D-10-5. 105
  • 権藤昌之, 三宅庸資, 梶原誠司. 機械学習を用いたデジタル温度電圧センサの精度向上について. 電子情報通信学会技術研究報告. 2020. 119. 420. 1-6
  • 三宅 庸資, 加藤 隆明, 梶原 誠司, 麻生 正雄, 二見 治司, 松永 恵士, 三浦 幸也. 長期信頼性試験におけるオンチップ遅延測定による劣化観測. 電子情報通信学会技術研究報告. 2019. 119. 351. 37-42
  • 三宅 庸資, 佐藤 康夫, 梶原 誠司. FPGAにおける周期的なフィールドテストのためのオンチップ遅延測定. 電子情報通信学会技術研究報告. 2018. 118. 364. 1-6
  • 三宅 庸資, 梶原 誠司. FPGAにおける自己補正可能なオンチップデジタル温度センサ. 第17回情報科学技術フォーラム講演論文集(FIT2018), C-010. 2018. 179-180
もっと見る
講演・口頭発表等 (15件):
  • On-Chip Delay Measurement for In-Field Test
    (IEEE VLSI Test Symposium (VTS), IP session, "Innovative Test Practices in Asia" 2020)
  • オンチップ遅延測定における温度電圧影響の補正手法について
    (第82回FTC研究会 2020)
  • On Machine Learning Based Calibration for An On-chip Digital Thermal/voltage Sensor
    (International Symposium on Applied Engineering and Sciences (SAES2019) 2019)
  • AIチップの高信頼を実現するオンチップ遅延劣化検出技術
    (LSIとシステムのワークショップ2019 2019)
  • FPGAにおけるオンチップ可変テストクロック生成器の検討
    (第80回FTC研究会 2019)
もっと見る
学歴 (2件):
  • 2012 - 2016 九州工業大学 情報システム専攻 博士後期課程
  • 2010 - 2012 九州工業大学 情報システム専攻 博士前期課程
学位 (1件):
  • 博士(情報工学) (九州工業大学)
経歴 (1件):
  • 2016/04 - 現在 九州工業大学 研究員
委員歴 (1件):
  • 2018/08 - 2019/09 IEEE International Test Conference in Asia 2019 実行委員会 Publication Chair
受賞 (1件):
  • 2012/03 - 電子情報通信学会九州支部 学術奨励賞
所属学会 (2件):
IEEE ,  電子情報通信学会
※ J-GLOBALの研究者情報は、researchmapの登録情報に基づき表示しています。 登録・更新については、こちらをご覧ください。

前のページに戻る