三宅庸資

ミヤケヨウスケ | Miyake Yousuke

所属機関・部署：
職名：研究職員

研究分野 (2件)：情報ネットワーク , 計算機システム

研究キーワード (5件)： FPGA , 温度センサ , LSIテスト , VLSIの設計とテスト , ディペンダブルコンピューティング

競争的資金等の研究課題 (4件)：

論文 (19件)：

Poki Chen, Joshua Adiel Wijaya, Seiji Kajihara, Trio Adiono, Hsiang-Yu Chen, Ruei-Ting Wang, Yousuke Miyake. A 1-ps Bin Size 4.87-ps Resolution FPGA Time-to-Digital Converter Based on Phase Wrapping Sorting and Selection. IEEE Access. 2022. 10. 126429-126439
Takaaki Kato, Yousuke Miyake, Seiji Kajihara. On Correction of A Delay Value Using Ring-Oscillators for Aging Detection and Prediction. Proc. IEEE Asian Test Symposium (ATS). 2022. 60-65
Masayuki Gondo, Yousuke Miyake, Takaaki Kato, Seiji Kajihara. On Evaluation for Aging-Tolerant Ring Oscillators with Accelerated Life Test and Its Application to Digital Sensor. Proc. IEEE Asian Test Symposium (ATS). 2020. 1-6
Yousuke Miyake, Takaaki Kato, Seiji Kajihara. Path Delay Measurement with Correction for Temperature And Voltage Variations. Proc. IEEE International Test Conference in Asia (ITC-Asia). 2020. 112-117
Yousuke Miyake, Takaaki Kato, Seiji Kajihara, Masao Aso, Haruji Futami, Satoshi Matsunaga, Yukiya Miura. On-Chip Delay Measurement for Degradation Detection And Its Evaluation under Accelerated Life Test. Proc. IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS). 2020. 1-6

MISC (25件)：

加藤隆明, 三宅庸資, 梶原誠司. オンチップ遅延測定における温度電圧の影響補正について. 電子情報通信学会技術研究報告. 2022. 121. 388. 18-23
権藤昌之, 三宅庸資, 加藤隆明, 梶原誠司. 回路の動作状況の違いに伴う劣化予測モデル更新の有効性について. 電子情報通信学会2021年総合大会論文集. 2021. D-10-3. 80
森誠一郎, 権藤昌之, 三宅庸資, 加藤隆明, 梶原誠司. 勾配降下法を用いた回路遅延の劣化予測について. 電子情報通信学会技術研究報告. 2020. 120. 288. 1-6
三宅庸資, 梶原誠司. フィールドテスト向けオンチップ遅延測定回路のIoT適用. 電子情報通信学会2020年総合大会論文集. 2020. D-10-5. 105
権藤昌之, 三宅庸資, 梶原誠司. 機械学習を用いたデジタル温度電圧センサの精度向上について. 電子情報通信学会技術研究報告. 2020. 119. 420. 1-6

講演・口頭発表等 (15件)：

On-Chip Delay Measurement for In-Field Test
(IEEE VLSI Test Symposium (VTS), IP session, "Innovative Test Practices in Asia" 2020)
オンチップ遅延測定における温度電圧影響の補正手法について
(第82回FTC研究会 2020)
On Machine Learning Based Calibration for An On-chip Digital Thermal/voltage Sensor
(International Symposium on Applied Engineering and Sciences (SAES2019) 2019)
AIチップの高信頼を実現するオンチップ遅延劣化検出技術
(LSIとシステムのワークショップ2019 2019)
FPGAにおけるオンチップ可変テストクロック生成器の検討
(第80回FTC研究会 2019)

学歴 (2件)：

学位 (1件)：

経歴 (2件)：

委員歴 (1件)：

2018/08 - 2019/09 IEEE International Test Conference in Asia 2019 実行委員会 Publication Chair

受賞 (1件)：

所属学会 (2件)：

IEEE , 電子情報通信学会

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三宅 庸資