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J-GLOBAL ID:201702219122968876   整理番号:17A1943374

ハライド気相成長法による直径2インチ(001)のβ-Ga2O3ホモエピタキシャルウェーハの作製

Preparation of 2-in.-diameter (001) β-Ga2O3 homoepitaxial wafers by halide vapor phase epitaxy
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巻: 56  号: 11  ページ: 110310.1-110310.3  発行年: 2017年11月 
JST資料番号: G0520B  ISSN: 0021-4922  CODEN: JJAPB6  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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本研究では,直径2インチの(001)ウェーハ上の厚いβ-Ga2O3層のホモエピタキシャル成長を,ハライド気相エピタキシーによって実証した。3?4μm/hの成長速度が,意図的にSiドープされたn型層の成長について確認された。10.9μmおよび2.7×1016cm-3の平均厚さおよびキャリア濃度を有するホモエピタキシャル層は,それぞれ1.8μm(16.5%)および0.5×1016cm-3(19.7%)の標準偏差を示した。キャリア濃度3.4×1016cm-3の5.3μm厚のホモエピタキシャル層上に直接作製されたNiショットキーバリアダイオードは,逆方向および順方向特性が妥当であることを示した。すなわち,破壊電圧が200Vを超え,オン抵抗が室温で3.8-7.7mΩcm2であった。(翻訳著者抄録)
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分類 (2件):
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半導体薄膜  ,  半導体-金属接触 

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