文献

J-GLOBAL ID：201702225989064884   整理番号：17A1610848

偏りを有するデータセットを用いた暗号モジュールのサイドチャネル攻撃耐性評価

クリップ

著者 (3件)： 松林雅人 (電通大 大学院情報理工学研究科) ,  GUNTUR Hendra (電通大 大学院情報理工学研究科) ,  佐藤証 (電通大 大学院情報理工学研究科)
資料名： 情報処理学会シンポジウムシリーズ(CD-ROM)  (IPSJ Symposium Series (CD-ROM))
巻： 2017  号： 1  ページ： 1157-1162  発行年： 2017年06月21日 
JST資料番号： L6741A  ISSN： 1882-0840  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： ISO/IEC17825はサイドチャネル攻撃への安全性において,暗号モジュールの内部データと外部で観測した動作波形に相関が見られるか,つまり内部データの情報が漏えいしているか否かをウェルチのT検定で評価するものである。本稿ではこのモジュールの内部情報を知り得る評価者の立場を利用し,内部データのパターンに偏りを持たせることで情報が漏えいしやすい状況を作り,評価の精度を高める手法を提案した。サイドチャネル攻撃対策を施したAES暗号回路による実験を通じて,本手法は標準のT検定に対して1/10の波形数で同等の解析精度が得られるとともに,従来のサイドチャネル攻撃による安全性評価においても有効であることを示した。(著者抄録)

シソーラス用語： 集合 ,  データ ,  モジュール ,  *暗号 ,  *耐性 ,  マルウェア ,  漏れ ,  情報 ,  電子回路 ,  安全評価 ,  *コンピュータウイルス ,  データセット
準シソーラス用語： 安全性評価 ,  暗号モジュール ,  暗号回路 ,  *攻撃耐性 ,  情報漏洩

分類 (1件)： データ保護  (JD01020V)

タイトルに関連する用語 (6件)： 偏り ,  データセット ,  暗号モジュール ,  チャネル ,  攻撃耐性 ,  評価