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J-GLOBAL ID:201702257533878547   整理番号:17A0953456

マグネシウムイオン注入によるGaN(000<span style=text-decoration:overline>1</span>)のP型ドーピング

P-type doping of GaN(000<span style=text-decoration:overline>1</span>) by magnesium ion implantation
著者 (5件):
資料名:
巻: 10  号:ページ: 016501.1-016501.4  発行年: 2017年01月 
JST資料番号: F0599C  ISSN: 1882-0778  CODEN: APEPC4  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 短報  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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表面が高温安定であるGaN(000<span style=text-decoration:overline>1</span>)基板上にマグネシウムイオン注入を行い,保護層を使用せずに注入後アニーリングを可能にした。GaN(000<span style=text-decoration:overline>1</span>)上に作製したp-nダイオードの電流-電圧特性は,約3Vのターンオン電圧で明確な整流を示した。マグネシウムイオンと水素イオンを共注入した場合,漏れ電流およびデバイス間バラツキが,効果的に抑制された。更に,これらのダイオードに対して,450nm以下の波長でエレクトロルミネセンスバンドが観察された。これらの結果は,注入したマグネシウムイオンが,GaN(000<span style=text-decoration:overline>1</span>)中にアクセプタを生成するという強力な証拠を提供した。(翻訳著者抄録)
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分類 (3件):
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半導体の放射線による構造と物性の変化  ,  発光素子  ,  固体デバイス製造技術一般 
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