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J-GLOBAL ID：201702268152264928   整理番号：17A1802716

電子後方散乱回折および電気化学的ひずみ顕微鏡法によるLi_0.33La_0.56TiO₃多結晶における相対Liイオン移動度マッピング

Relative Li-ion mobility mapping in Li_0.33La_0.56TiO₃ polycrystalline by electron backscatter diffraction and electrochemical strain microscopy

著者 (10件)： SASANO Shun (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN) ,  ISHIKAWA Ryo (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN) ,  SUGIYAMA Issei (Tokyo Inst. of Technol., Tokyo, JPN) ,  HIGASHI Takuma (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN) ,  KIMURA Teiichi (Japan Fine Ceramics Center, Nagoya, JPN) ,  IKUHARA Yumi H. (Japan Fine Ceramics Center, Nagoya, JPN) ,  SHIBATA Naoya (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN) ,  SHIBATA Naoya (Japan Fine Ceramics Center, Nagoya, JPN) ,  IKUHARA Yuichi (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN) ,  IKUHARA Yuichi (Japan Fine Ceramics Center, Nagoya, JPN)
資料名： Applied Physics Express  (Applied Physics Express)
巻： 10  号： 6  ページ： 061102.1-061102.4  発行年： 2017年06月 
JST資料番号： F0599C  ISSN： 1882-0778  CODEN： APEPC4  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： これまで固体電解質中のLiイオン伝導度はインピーダンス分光法により測定されてきた。しかし,この方法では,空間分解能がないために微細構造情報を得ることが困難である。ここでは,Li_0.33La_0.56TiO₃多結晶における電子後方散乱回折と組み合わせた電気化学的歪み顕微鏡法によるLiイオン移動度と結晶方位との関係を示す。実験的に構築された多変数回帰モデルでは,100ミリメートルの空間分解能でサブミリメートル幅の定性的なLiイオン移動度マップを得たが,これは原子間力顕微鏡のみでは実現不可能である。提案の方法は,3次元でLiイオン拡散経路を同定するために有用であると期待される。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： 電子回折 ,  後方散乱 ,  *走査型プローブ顕微鏡 ,  *イオン移動度 ,  金属イオン ,  *リチウム化合物 ,  リチウム ,  酸化チタン ,  ランタン化合物 ,  ペロブスカイト型結晶 ,  原子間力顕微鏡
準シソーラス用語： 電子後方散乱回折 ,  電子後方散乱 ,  電気化学顕微鏡 ,  リチウムイオン

分類 (3件)： 一次電池  (YB04020Z) ,  その他の無機化合物の電気伝導  (BM03044O) ,  固体中の拡散一般  (BL06021L)

引用文献 (36件)：

• N. Kamaya, K. Homma, Y. Yamakawa, M. Hirayama, R. Kanno, M. Yonemura, T. Kamiyama, Y. Kato, S. Hama, K. Kawamoto, and A. Mitsui, Nat. Mater. 10, 682 (2011).
• Y. Seino, T. Ota, K. Takada, A. Hayashi, and M. Tatsumisago, Energy Environ. Sci. 7, 627 (2014).
• P. Knauth, Solid State Ionics 180, 911 (2009).
• H. Moriwake, X. Gao, A. Kuwabara, C. A. J. Fisher, T. Kimura, Y. H. Ikuhara, K. Kohama, T. Tojigamori, and Y. Ikuhara, J. Power Sources 276, 203 (2015).
• D.-H. Kim, D.-H. Kim, Y.-C. Jeong, H.-I. Seo, and Y.-C. Kim, Ceram. Int. 38, S467 (2012).

タイトルに関連する用語 (8件)： 電子後方散乱回折 ,  電気化学 ,  ひずみ ,  顕微鏡法 ,  多結晶 ,  Li ,  イオン移動度 ,  マッピング