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J-GLOBAL ID:201702273344482706   整理番号:17A1381682

法線ベクトル追跡法に基づくnanoprofilerによる高精度三次元非球面ミラー測定【Powered by NICT】

High-accuracy three-dimensional aspheric mirror measurement with nanoprofiler based on normal vector tracing method
著者 (7件):
資料名:
巻: 98  ページ: 159-162  発行年: 2017年 
JST資料番号: A0602B  ISSN: 0143-8166  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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高精度非球面光学素子のための需要は近年著しく増加している。そのような光学素子の表面形状は1nmピークから谷(PV)精度で測定する必要がある;が,従来法と1nm PV精度を達成することは困難である。本研究では,要求される精度を達成できることを法線ベクトル追跡法に基づくナノプロファイラを開発した。非球面鏡はナノプロファイラを用いて測定した,再現性のある,サブナノメータ測定を達成した。さらに,Fizeau干渉計の性能と提案ナノプロファイラ結果を比較し,その差は系統誤差以内であったことを見出した。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】
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分類 (1件):
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干渉測定と干渉計 
タイトルに関連する用語 (4件):
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