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J-GLOBAL ID：201702276629549638   整理番号：17A1955764

単色アンジュレータ放射を用いた時間分解X線反射率および表面回折

Time-Resolved X-Ray Reflectivity and Surface Diffraction Using Monochromatic Undulator Radiation

著者 (7件)： VOEGELI Wolfgang (Tokyo Gakugei Univ., Tokyo, JPN) ,  ARAKAWA Etsuo (Tokyo Gakugei Univ., Tokyo, JPN) ,  TAKAHASHI Toshio (Tokyo Gakugei Univ., Tokyo, JPN) ,  SHIRASAWA Tetsuroh (National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol., Ibaraki, JPN) ,  SHIRASAWA Tetsuroh (JST-PRESTO, Saitama, JPN) ,  TAJIRI Hiroo (Japan Synchrotron Radiation Res. Inst., Hyogo, JPN) ,  MATSUSHITA Tadashi (KEK, Ibaraki, JPN)
資料名： Program/Abstracts of ISSS (CD-ROM)  (Program/Abstracts of ISSS (CD-ROM))
巻： 8th  ページ： ROMBUNNO.6PN-85  発行年： 2017年 
JST資料番号： L8395B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： *シンクロトロン放射 ,  *放射線 ,  *時間分解分光法 ,  *反射率 ,  *X線回折 ,  散乱 ,  構造解析
準シソーラス用語： *アンジュレータ放射 ,  *単色放射線 ,  *X線反射率 ,  *表面X線回折 ,  CTR散乱 ,  逆格子空間

分類 (3件)： X線回折法  (BK01020I) ,  光物性一般  (BM08010A) ,  電磁場中の粒子の運動及び放射  (BD01030Y)

タイトルに関連する用語 (5件)： 単色 ,  アンジュレータ放射 ,  分解 ,  X線反射率 ,  回折