文献
J-GLOBAL ID：201702283232286012
整理番号：17A1076066 ラウエ型湾曲結晶分光器による高感度XAFS
Approach to Highly Sensitive XAFS by Means of Bent Crystal Laue Analyzers
- 出版者サイト 複写サービスで全文入手
- 高度な検索・分析はJDreamⅢで
引用文献 (9件)
- 1) Y. Iwasawa, K. Asakura and M. Tada (Eds.): “XAFS Techniques for Catalysts, Nanomaterials, and Surfaces” (Springer, 2016).
- 2) K. Asakura: “Catalysis”, ed. by J.J. Spivey and M. Gupta (RSC publishing, Cambridge 2012) Vol. 24, p. 281.
- 3) H. Uehara, Y. Uemura, T. Ogawa, K. Kono, R. Ueno, Y. Niwa, H. Nitani, H. Abe, S. Takakusagi, M. Nomura, Y. Iwasawa and K. Asakura: Phys. Chem. Chem. Phys.: PCCP 16, 13748 (2014).
- 4) Z. Zhong, L.D. Chapman, B.A. Bunker, G.B. Bunker, R. Fischetti and C.U. Segre: J. Synchrotron Rad. 6, 212 (1999).
- 5) E. Erola, V. Etelaniemi, P. Suortti, P. Pattison and W. Thomlinson: J. Appl. Crystallogr. 23, 35 (1990).
- 6) C. Karanfil, G. Bunker, M. Newville, C.U. Segre and D. Chapman: J. Synchrotron Rad. 19, 375 (2012).
- 7) “BCLA User Manual” (FMB Oxford Ltd., UK, 2011).
- 8) 岩崎裕也: 北海道大学工学部機械知能工学科卒業論文 (2014).
- 9) M. Sanchez del Rio, N. Perez-Bocanegra, X. Shi, V. Honkimaki and L. Zhang: J. Appl. Crystallogr. 48, 477 (2015).
1〜9 件目 / 全 9 件
- « 最初
- ‹ 前へ
- 1
- 次へ ›
- 最後 »
