欠点検査方法及び欠点検査装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：長尾常明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-105775
公開番号（公開出願番号）：特開2017-211325
出願日： 2016年05月27日
公開日（公表日）： 2017年11月30日
要約：

【課題】シートの検出した欠点の位置に当該欠点の属性を表す情報を光画像で投射できるようにする。【解決手段】シート1を撮像した2次元画像14aからシート1に存在する欠点1a1〜1a3の欠点画像14a1〜14a3を得て、その欠点画像14a1〜14a3の座標に属性画像16a1〜16a3を生成し、その属性画像16a1〜16a3に応じた属性光画像17a1〜17a3をシート1の欠点1a1〜1a3に投射する。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

シートを撮像した画像から前記シートに存在する欠点を検出し、得られた欠点に基づいて前記シートの前記欠点の位置又は前記欠点の近傍に前記欠点の属性を表す属性光画像を投射することを特徴とする欠点検査方法。

IPC (3件)：

G01N 21/892 , G01B 11/00 , G01N 21/896

FI (3件)：

G01N21/892 A , G01B11/00 A , G01N21/896

Fターム (31件)：

2F065AA01 , 2F065AA02 , 2F065AA03 , 2F065AA21 , 2F065AA49 , 2F065BB15 , 2F065BB22 , 2F065CC02 , 2F065DD02 , 2F065DD06 , 2F065FF04 , 2F065FF31 , 2F065FF64 , 2F065HH07 , 2F065HH13 , 2F065JJ19 , 2F065JJ25 , 2F065JJ26 , 2F065QQ23 , 2F065QQ24 , 2F065QQ25 , 2F065QQ31 , 2F065RR03 , 2F065SS01 , 2G051AA32 , 2G051AA41 , 2G051AB02 , 2G051CA04 , 2G051DA06 , 2G051DA15 , 2G051EA14

引用特許：

審査官引用 (5件)

透明フィルム外観検査システム
公報種別：公開公報出願番号：特願2007-221897 出願人：パナソニック電工株式会社
フラットディスプレイパネルの検査方法
公報種別：公開公報出願番号：特願2005-040169 出願人：松下電器産業株式会社
自動機械用の工程中視覚検査のためのシステムおよび方法
公報種別：公表公報出願番号：特願2008-526218 出願人：ザ・ボーイング・カンパニー

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