特許
J-GLOBAL ID:201703005071189538
質量分析データ処理方法及び装置
発明者:
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出願人/特許権者:
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代理人 (1件):
特許業務法人京都国際特許事務所
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2016-074892
公開番号(公開出願番号):特開2016-153798
特許番号:特許第6207036号
出願日: 2016年04月04日
公開日(公表日): 2016年08月25日
請求項(抜粋):
【請求項1】 試料上の2次元領域内に設定された複数の微小領域に対しそれぞれ質量分析を実行する質量分析装置で収集された質量分析データを処理する質量分析データ処理方法であって、
a)試料上の2次元領域内の1つの微小領域と、該微小領域に空間的に隣接する別の微小領域とを選定する処理対象設定ステップと、
b)前記処理対象設定ステップにより選定された2つの微小領域に対する質量分析データを用い、それら2つの微小領域の間で共通性の高いピーク情報を共通発現情報として抽出する共通発現情報抽出ステップと、
を有することを特徴とする質量分析データ処理方法。
IPC (1件):
FI (2件):
G01N 27/62 D
, G01N 27/62 Y
引用特許:
審査官引用 (8件)
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質量分析装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2007-191654
出願人:株式会社島津製作所
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質量分析装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2007-191775
出願人:株式会社島津製作所
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質量分析データ処理装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2009-114261
出願人:株式会社島津製作所
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