特許
J-GLOBAL ID：201703008422575196

情報処理装置、情報処理方法、及びプログラム

発明者：
大平 倫宏

大平 倫宏 について

, 
富山 真一

富山 真一 について


出願人/特許権者：
地方独立行政法人東京都立産業技術研究センター

地方独立行政法人東京都立産業技術研究センター について


代理人 (3件)： 中島 淳 ,  加藤 和詳 ,  福田 浩志
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-112634
公開番号（公開出願番号）：特開2017-219368
出願日： 2016年06月06日
公開日（公表日）： 2017年12月14日
要約：
【課題】3次元状の被検査対象物に含まれる特性が異なる領域の迅速な特定に寄与することができる情報処理装置、情報処理方法、及びプログラムを提供する。【解決手段】情報処理装置は、3次元状の被検査対象物に対する複数の2次元断層画像を取得する取得部60と、取得部60により取得された複数の2次元断層画像の各々から円状領域を検出する検出部62と、検出部62により検出された円状領域を対象として、複数の2次元断層画像の深さ方向における既定間隔毎の2次元断層画像内での円状領域の中心を示す中心座標の一致度が所定の一致度以上であり、且つ、既定間隔毎の2次元断層画像内での円状領域の半径であって、複数の2次元断層画像のうちの隣接する2次元断層画像間で所定の変位度で変位する半径の個数が所定個数以上であるとの条件を有する円状領域に基づいて球状空隙を特定する特定部64と、を含む。【選択図】図10
請求項（抜粋）：
3次元状の被検査対象物に対する複数の2次元断層画像を取得する取得部と、 前記取得部により取得された前記複数の2次元断層画像の各々から円状領域を検出する検出部と、 前記検出部により検出された前記円状領域を対象として、前記複数の2次元断層画像の深さ方向における既定間隔毎の前記2次元断層画像内での前記円状領域の中心を示す中心座標の一致度が所定の一致度以上であり、且つ、前記既定間隔毎の前記2次元断層画像内での前記円状領域の半径であって、前記複数の2次元断層画像のうちの隣接する2次元断層画像間で所定の変位度で変位する半径の個数が所定個数以上であるとの条件を有する円状領域に基づいて球状空隙を特定する特定部と、 を含む情報処理装置。
IPC (2件)：
G01N 23/04 ,  G01N 23/18
FI (2件)：
G01N23/04 320 ,  G01N23/18
Fターム (8件)：
2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001GA01 ,  2G001GA13 ,  2G001HA07 ,  2G001KA04 ,  2G001LA11
引用特許：
出願人引用 (4件)
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引用文献：
出願人引用 (2件)

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