特許
J-GLOBAL ID：201703009838752948
光子検出装置及び光子検出方法
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
塩田 伸
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2015-123764
公開番号（公開出願番号）：特開2017-009372
出願日： 2015年06月19日
公開日（公表日）： 2017年01月12日
要約：
【課題】実用的で、アフターパルスがなく、ダークカウントの発生を抑えた光子検出を行うことができ、かつ、低ジッタで高い計数率が得られる光子検出装置及び光子検出方法を提供する。【解決手段】板面が光子検出面とされる長板状の超伝導ストリップ線1及び超伝導ストリップ線1にバイアス電流を供給するバイアス電流供給手段2を有する光子検出部と、光子検出時に超伝導ストリップ線1から飛散する磁束を検出可能な単一磁束量子コンパレータ回路4と、を有する。【選択図】図2
請求項（抜粋）：
板面が光子検出面とされる長板状の超伝導ストリップ線及び前記超伝導ストリップ線にバイアス電流を供給するバイアス電流供給手段を有する光子検出部と、
光子検出時に前記超伝導ストリップ線から飛散する磁束を検出可能な単一磁束量子コンパレータ回路と、
を有することを特徴とする光子検出装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (10件)：
2G065AA04
, 2G065BA31
, 2G065BA34
, 2G065BC01
, 2G065BC31
, 2G065BE08
, 2G065CA12
, 4M113AC22
, 4M113AC25
, 4M113AC46
