特許
J-GLOBAL ID：201703010745748973
超音波探傷装置及び超音波探傷装置の運転方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
特許業務法人 有古特許事務所
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-179632
公開番号（公開出願番号）：特開2015-049087
特許番号：特許第6126497号
出願日： 2013年08月30日
公開日（公表日）： 2015年03月16日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 探触子を有する第1探傷ヘッドと、
探触子を有する第2探傷ヘッドと、
前記第1探傷ヘッド及び前記第2探傷ヘッドの各々を走査させる移動機構と、
校正用標準片が配置されている校正エリアと、
被検査物が配置されている探傷エリアと、
前記第1探傷ヘッドを走査させて前記校正用標準片により校正を行う第1校正処理、又は前記第1探傷ヘッドにより前記被検査物の超音波探傷検査を行う第1探傷処理を実行するときに、前記第2探傷ヘッドを走査させて前記校正用標準片により校正を行う第2校正処理を実行する制御器と、を備え、
前記校正エリアは、前記校正用標準片がそれぞれに配置されている第1校正エリアと第2校正エリアとを有し、
前記探傷エリアは、前記第1校正エリアと前記第2校正エリアに挟まれるように形成されていて、
前記第1探傷ヘッドは、前記第1校正エリアに配置されている前記校正用標準片により校正を行うように構成され、
前記第2探傷ヘッドは、前記第2校正エリアに配置されている前記校正用標準片により校正を行うように構成されている、超音波探傷装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
引用特許：
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